分析射頻導納連續(xù)物位計的2大干擾源
　　射頻導納物位計在各行各業(yè)的測量系統中使用相當頻繁，在其使用過程中會受到很多因素的影響，可能會影響測量精度。射頻導納連續(xù)物位計在測量過程中產生干擾的具體因素都有哪些。常見的干擾可分為兩種：直流和交流干擾，具體如下：
　　1、直流干擾：在射頻導納連續(xù)物位計測量回路中，出現附加直流流電壓時，即為直流干擾。嚴重時，將使測量儀表不能正常工作。直流干擾的來源有以下幾種：
　?。?）附加熱電勢。
　?。?）化學電勢。
　?。?）射頻導納連續(xù)物位計與直流電源接觸時，泄露電流將通過測量回路產生干擾電壓。
　　2、交流干擾：交流干擾又可分為線間干擾和對地干擾。線間干擾是指外界影響下，射頻導納連續(xù)物位計（補償導線）輸出端之間會出現交流電壓。這種干擾又稱為橫向、共?；蚬矐B(tài)干擾。交流干擾的來源主要有以下幾種：
　?。?）電磁感應是線間干擾的主要來源。
　　（2）高溫漏電影響。
　　（3）高壓電場干擾。
　?。?）地電流干擾。
　?。?）吸嘲漏電影響。