溫度沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學(xué)校、工廠等單位用于電工、電子產(chǎn)品、液晶顯示屏、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

1、溫度沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)?zāi)康模捍_定測試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時的適應(yīng)性及被破壞性。
2、試驗(yàn)條件：高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃，試驗(yàn)溫度保持時間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測試。
3、恢復(fù)：測試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
4、對溫度沖擊試驗(yàn)箱的要求：
a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
b.高溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.3-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
c.低溫區(qū)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。

d.溫度沖擊試驗(yàn)箱提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。

e.試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過試驗(yàn)溫度保持時間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。

5、參照滿足標(biāo)準(zhǔn)：　
    GB10592-89高低溫箱技術(shù)條件；
　　GB10586-93濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
　 《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：低溫試驗(yàn)方法；
　 《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：高溫試驗(yàn)方法；
　 《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：交變濕熱試驗(yàn)方法；
　 《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：恒定濕熱試驗(yàn)方法。

6、控制系統(tǒng):

低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間≤10s。

溫度恢復(fù)時間≤5min。