1756-IB32供應(yīng), 產(chǎn)品介紹
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電源模塊輸出電壓與工作溫度的關(guān)系

為了摸清電源模塊電學(xué)參數(shù)隨溫度變化的情況，首先對(duì)電源模塊整體進(jìn)行加

熱，測(cè)試其輸入電流、輸出電流、輸出電壓電學(xué)參數(shù)，試驗(yàn)條件：

保持輸入電壓

28 V

，輸出負(fù)載

15Ω 

，輸出電流

1 A

；測(cè)試輸入電流與輸出電

壓隨溫度的變化。發(fā)現(xiàn)模塊的輸出電壓有較明顯的下降，

輸入電流，輸出電流的變化趨勢(shì)不是很明顯，

其變化趨勢(shì)是伴隨著溫度的升高，電源模塊的電壓逐漸減小，

而且趨勢(shì)非常明顯，加熱溫度在50 ℃此外，因?yàn)槟K的效率是

其性能的重要指標(biāo)，

當(dāng)效率下降到一定數(shù)值，

模塊也會(huì)因?yàn)楫a(chǎn)生熱量過多而失

效。為此計(jì)算了該試驗(yàn)條件下模塊效率隨溫度的變化，從圖

可見模塊的效

率，隨著溫度的升高，變化趨勢(shì)更加明顯，開始較為緩慢，隨著溫度的升高而

逐漸加快，呈現(xiàn)玻爾茲曼指數(shù)分布。

在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)當(dāng)溫度升到輸出電壓為零。

電源模塊Vout 與溫度的關(guān)系。

為了尋找導(dǎo)致電源模塊的輸出電壓隨溫度升高而明顯下降的主要元器件，根

據(jù)模塊的電路，選擇相應(yīng)的元件搭建電路，該電路經(jīng)過測(cè)試可以完成模塊的所有功能，同時(shí)因?yàn)榉羌苫?/span>可以對(duì)其元件單獨(dú)測(cè)試，避免了集成元件因尺寸太小而難以測(cè)試的條件。下面對(duì)電源模塊中的重要的元件單獨(dú)加熱，測(cè)試其電參數(shù)隨溫度的變化，同時(shí)測(cè)試電路的變化。電源模塊效率溫度的關(guān)系。