1、名詞解釋：
1）波動度：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時間的變化量。
2）均勻度：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間某一時刻各測試點(diǎn)（溫）之間    
的差異。
3）偏差：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點(diǎn)的實測ui高值和實測ui低值與標(biāo) 
稱值的上下偏差。
2、計量特性：溫偏差、溫波動度、溫均勻性
3、計量方法：
1）計量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載，應(yīng)在證書中說明負(fù)載情況。
2）計量濁點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點(diǎn)，也可根據(jù)用戶需要選擇實際常用的溫點(diǎn)
3）計量點(diǎn)的位置：
 設(shè)備容積小于2m3時，溫度點(diǎn)9個，點(diǎn)3個
 設(shè)備容積大于2 m3，溫度點(diǎn)15個，溫度點(diǎn)4個
計算（以溫度為例）
波動度：△tf=±tomax-tomin/2
均勻度：△tu=Σttmax-ttmin/n
　　　　I=1
偏差：△Tmax=Tmax-T標(biāo)
      △Tmin=Tmin-T標(biāo)2、
現(xiàn)在實行的軍用標(biāo)準(zhǔn)美
 MIL-STO-810
 GJB150~20-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法
 GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
 GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗
 GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
 GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
 GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件