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為了防止冷裂紋缺陷的產(chǎn)生,需要采取以下措施:
由于焊接缺陷的產(chǎn)生原因較為復(fù)雜,結(jié)合實(shí)際生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)提出了焊接缺陷防止的主要措施,除此之外還要根據(jù)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、材質(zhì)特性、焊接流程控制等方面制定合理的解決方案,希望對焊接工作者有所幫助,共同探討,共同進(jìn)步。
NJ-QP880型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計和制造工藝技術(shù),采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機(jī)設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)??蓹z測基體有鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。可檢測:C S Si Mn P Cr Ni Mo Ti Cu Co W Nb Al Pb Sn B N As La Sc Fe Mg Zn Ag等元素含量。光學(xué)系統(tǒng):Paschen-Runge光學(xué)系統(tǒng);波長范圍:165~580nm;探 測 器:高性能CMOS陣列;檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20秒左右。
南京諾金高速分析儀器廠
2020年9月5日
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