高壓開關(guān)柜有各種各樣的電力設(shè)備，例如斷路器、MOF、VCB、CT、PT、LA、COS、PF、MOLD TR、母線等，而低壓開關(guān)設(shè)備有MCCB、CT、PT、CV開關(guān)柜等。開關(guān)柜的設(shè)備故障包括由于長(zhǎng)時(shí)間使用引起的絕緣缺陷，由于觸點(diǎn)的不良連接引起的放電的瞬間短路以及各個(gè)連接部分，過(guò)熱、電涌、電流故障等。圖2 通過(guò)分布圖表明了引起開關(guān)柜故障的原因。

1.3局部放電的產(chǎn)生

局部放電，是絕緣介質(zhì)中的一種電氣放電，這種放電制在被測(cè)介質(zhì)中一部分且只使導(dǎo)體間的絕緣局部橋接，這種放電可能發(fā)生或可能不發(fā)生于導(dǎo)體的鄰近。電力設(shè)備絕緣中的某些薄弱部位在強(qiáng)電場(chǎng)的作用下發(fā)生局部放電是高壓絕緣中普遍存在的問題。雖然局部放電一般不會(huì)引起絕緣的穿透性擊穿，但可以導(dǎo)致電介質(zhì)（特別是有機(jī)電介質(zhì)）的局部損壞。若局部放電長(zhǎng)期存在，在一定條件下會(huì)導(dǎo)致絕緣劣化甚至擊穿。對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行局部放電試驗(yàn)，不但能夠了解設(shè)備的絕緣狀況，還能及時(shí)發(fā)現(xiàn)許多有關(guān)制造與安裝方面的問題，確定絕緣故障的原因及其嚴(yán)重程度。因此，對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行局部放電測(cè)試是電力設(shè)備制造和運(yùn)行中的一項(xiàng)重要預(yù)防性試驗(yàn)。

各種局部放電檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，基于對(duì)發(fā)生局部放電時(shí)產(chǎn)生的各種電、光、聲、熱等現(xiàn)象的研究，局部放電檢測(cè)技術(shù)中也相應(yīng)出現(xiàn)了電檢測(cè)法和光測(cè)法、聲測(cè)法、紅外熱測(cè)法等非電量檢測(cè)方法。近年來(lái)，隨著局部放電檢測(cè)技術(shù)的提高和進(jìn)步，采用電磁輻射信號(hào)進(jìn)行局放檢測(cè)成為一項(xiàng)簡(jiǎn)便易行的檢測(cè)方法。