費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY  XDAL237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運(yùn)行的 工作臺和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動測量的理想儀器。當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩*攝像頭具備*的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時觀察測量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動調(diào)整儀器或搖桿，或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來實(shí)現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過*而界面友好的 軟件在電腦上完成的。

XDAL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

為了使每次測量都在*佳的激發(fā)條件下進(jìn)行，費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動切換的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。半導(dǎo)體探測器能夠達(dá)到很高的分析精度及探測靈敏度。型 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。從元素鋁（ ）到鈾（ ），*多可同時測定種元素。尤其適合測量和分析薄鍍層，即使是十分復(fù)雜的成分構(gòu)成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運(yùn)行的 平臺，它是質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控的自動測量過程的合適的測量儀器。

費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237詳細(xì)參數(shù)規(guī)格：

1、通用規(guī)格

設(shè)計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

形式設(shè)計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達(dá)驅(qū)動的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(diǎn)（類）定位測量點(diǎn)。

測量方向：從上到下。

2、X 射線源

X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔：10、30、50KV

孔徑（準(zhǔn)直器） ：4個可切換準(zhǔn)直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規(guī)格。

基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）

測量點(diǎn)：取決于測量距離及準(zhǔn)直器大?。辉谝曨l窗口中顯示實(shí)際的測量點(diǎn)大小。*小的測量點(diǎn)大小約為0.15mm直徑。

測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補(bǔ)償測量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求，校正是必要的。

3、X射線探測

標(biāo)準(zhǔn)：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導(dǎo)體探測器、能量分辨率小于等于200eV、元素范圍硫?yàn)镾(16)到到鈾U(92)

可選 SDD：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測器、能量分辨率小于等于160eV、元素范圍為鋁AL(13) 到鈾U(92)

4、樣品定位

視頻系統(tǒng)：高分辨率 彩色攝像頭，沿著初級射線光束方向觀察測量位置手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的照明、激光光點(diǎn)用于精-確定位樣品。

放大倍數(shù)：40*-160*

5、工作臺

快速，電機(jī)驅(qū)動，可編程的X/Y工作臺

移動范圍          XY方向：255mm*235mm ； Z軸:140mm

Xy平臺移動速度    80mm/s

xyz移動重復(fù)精度       小于等于0.01mm（單向）

可用樣品放置區(qū)域      長寬：300mm*350mm

樣品重量          5kg，降低精度要求情況下可達(dá)20kg

樣品高度          140mm

6、電氣參數(shù)

電源要求 交流220v、50HZ

功耗  120W(不包括計算機(jī))

保護(hù)等級IP40

7、尺寸規(guī)格

外部尺寸寬深高 ：570*760*650

重量約115kg

內(nèi)部測量室尺寸寬深高：460*495*146

8、環(huán)境要求

使用時溫度：10-40攝氏度

存儲或運(yùn)輸時溫度：0-50攝氏度

空氣相對濕度 ，小于等于95%、無結(jié)露

9、計算單元

計算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計算機(jī)系統(tǒng)

軟件：標(biāo)準(zhǔn)： 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM；可選：fischer winFTM SUPER

10、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

CE合格標(biāo)準(zhǔn)：EN61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準(zhǔn)：作為受*保護(hù)的儀器

型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。

11、費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237訂貨號

標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體探測器 604-348

可選SDD探測器 605-567

如有特殊要求，可與fischer磋商，定制特殊的XDAL型號。