費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測(cè)試儀/射線鍍層厚度檢測(cè)儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計(jì)理念：

FISCHERSCOPE X-RAY  XDAL237是一款界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。它裝備了高精度，可編程運(yùn)行的 工作臺(tái)和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的理想儀器。當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。通過激光光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。高分辨率的彩*攝像頭具備*的放大功能，可以精-確定位測(cè)量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動(dòng)調(diào)整儀器或搖桿，或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來實(shí)現(xiàn)。測(cè)量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。有的操作，測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過*而界面友好的 軟件在電腦上完成的。

XDAL型鍍層測(cè)厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可符合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

為了使每次測(cè)量都在*佳的激發(fā)條件下進(jìn)行，費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測(cè)試儀/射線鍍層厚度檢測(cè)儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動(dòng)切換的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片。半導(dǎo)體探測(cè)器能夠達(dá)到很高的分析精度及探測(cè)靈敏度。型 射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要，為您節(jié)省時(shí)間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。從元素鋁（ ）到鈾（ ），*多可同時(shí)測(cè)定種元素。尤其適合測(cè)量和分析薄鍍層，即使是十分復(fù)雜的成分構(gòu)成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運(yùn)行的 平臺(tái)，它是質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控的自動(dòng)測(cè)量過程的合適的測(cè)量?jī)x器。

費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測(cè)試儀/射線鍍層厚度檢測(cè)儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237詳細(xì)參數(shù)規(guī)格：

1、通用規(guī)格

設(shè)計(jì)用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀 用來測(cè)量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

形式設(shè)計(jì)：臺(tái)式儀器，測(cè)量門向上開啟可編程的工作臺(tái)和電調(diào)的軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(diǎn)（類）定位測(cè)量點(diǎn)。

測(cè)量方向：從上到下。

2、X 射線源

X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔：10、30、50KV

孔徑（準(zhǔn)直器） ：4個(gè)可切換準(zhǔn)直器：圓形；長(zhǎng)方形、可按要求定制其它規(guī)格。

基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無(wú)）

測(cè)量點(diǎn)：取決于測(cè)量距離及準(zhǔn)直器大??；在視頻窗口中顯示實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小。*小的測(cè)量點(diǎn)大小約為0.15mm直徑。

測(cè)量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡(jiǎn)化方法的距離補(bǔ)償測(cè)量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求，校正是必要的。

3、X射線探測(cè)

標(biāo)準(zhǔn)：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器、能量分辨率小于等于200eV、元素范圍硫?yàn)镾(16)到到鈾U(92)

可選 SDD：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測(cè)器、能量分辨率小于等于160eV、元素范圍為鋁AL(13) 到鈾U(92)

4、樣品定位

視頻系統(tǒng)：高分辨率 彩色攝像頭，沿著初級(jí)射線光束方向觀察測(cè)量位置手動(dòng)聚焦，對(duì)被測(cè)位置進(jìn)行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測(cè)量點(diǎn)尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的照明、激光光點(diǎn)用于精-確定位樣品。

放大倍數(shù)：40*-160*

5、工作臺(tái)

快速，電機(jī)驅(qū)動(dòng)，可編程的X/Y工作臺(tái)

移動(dòng)范圍          XY方向：255mm*235mm ； Z軸:140mm

Xy平臺(tái)移動(dòng)速度    80mm/s

xyz移動(dòng)重復(fù)精度       小于等于0.01mm（單向）

可用樣品放置區(qū)域      長(zhǎng)寬：300mm*350mm

樣品重量          5kg，降低精度要求情況下可達(dá)20kg

樣品高度          140mm

6、電氣參數(shù)

電源要求 交流220v、50HZ

功耗  120W(不包括計(jì)算機(jī))

保護(hù)等級(jí)IP40

7、尺寸規(guī)格

外部尺寸寬深高 ：570*760*650

重量約115kg

內(nèi)部測(cè)量室尺寸寬深高：460*495*146

8、環(huán)境要求

使用時(shí)溫度：10-40攝氏度

存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度：0-50攝氏度

空氣相對(duì)濕度 ，小于等于95%、無(wú)結(jié)露

9、計(jì)算單元

計(jì)算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

軟件：標(biāo)準(zhǔn)： 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM；可選：fischer winFTM SUPER

10、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

CE合格標(biāo)準(zhǔn)：EN61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準(zhǔn)：作為受*保護(hù)的儀器

型式許可*符合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。

11、費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測(cè)試儀/射線鍍層厚度檢測(cè)儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237訂貨號(hào)

標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體探測(cè)器 604-348

可選SDD探測(cè)器 605-567