為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
一、 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
⒈  校準(zhǔn)箔
對(duì)本儀器“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片?！安庇欣谇嫔系?br>校準(zhǔn)。
⒉  有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于本儀
器，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。
二、 基體
⒈  對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的
讀數(shù)進(jìn)行比較。
⒉  如果待測(cè)試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
1)  在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
2)  用一足夠厚度的，電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
⒊  如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。
三、 校準(zhǔn)方法
本儀器有兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法，零點(diǎn)校準(zhǔn)；二點(diǎn)校準(zhǔn)；還有一種針對(duì)測(cè)
頭的基本校準(zhǔn)。
⒈  零點(diǎn)校準(zhǔn)
a． 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，儀器顯示＜×.×µm＞。
b． 按一下“ON/C”鍵，屏顯＜0.00µm＞即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
c． 要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)零點(diǎn)，須重復(fù)上述a、b以獲得基體測(cè)量值小于1µm，這樣有利于提高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
⒉  二點(diǎn)校準(zhǔn)
a． 先校零點(diǎn)（見上）。
b． 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×××µm＞。
c． 用s或t鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)片上的標(biāo)稱值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。
注意：即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值符合，按s、t鍵也是的，例如按一次s鍵一次t鍵。
如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c過程，以提高校準(zhǔn)的精度，
減少偶然誤差。
⒊  在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面
的方法確定
a． 儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b． 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴沙處理的表面測(cè)量10次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上測(cè)量10次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm和SMo中較大的一個(gè)。
⒋  儀器的基本校準(zhǔn)
在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的：
──測(cè)頭頂端被磨損
──測(cè)頭修理后
──特殊的用途
在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校
準(zhǔn)，稱為基本校準(zhǔn)。通過輸入6個(gè)校準(zhǔn)值（一個(gè)零值和5個(gè)厚度值）可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
基本校準(zhǔn)操作方法如下：
a． 在儀器關(guān)閉狀態(tài)下按住t鍵再按ON/C鍵開機(jī)，隨著一聲鳴響即進(jìn)入基本校準(zhǔn)方式。屏幕顯示如下：

b． 先校零值（見零點(diǎn)校準(zhǔn)）。可連續(xù)重復(fù)多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣可提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。
c． 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序做五個(gè)厚度的校準(zhǔn)（見二點(diǎn)校準(zhǔn)中的b、c）。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800µm。較大值應(yīng)接近、但低于測(cè)頭的較大測(cè)量范圍。
d． 在輸入6個(gè)校準(zhǔn)值后，測(cè)量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開機(jī)時(shí)，儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。