鍍層測(cè)厚儀有三種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。 
3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn) 
(a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×.×μm＞。 
(b) 按 鍵，屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。
(c) 重復(fù)上述a、b步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。 
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn) 
3.3.2.1 一試片法 這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。 
(a) 先校零點(diǎn)（如上述）。 
(b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示＜×××μm＞。 
(c) 用 或 鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成可以開(kāi)始測(cè)量了。 
注意:1.即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符，按 或 鍵也是的，例如按一次 一次 。這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。
2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。 
3.3.2.2 二試片法 
兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。 
(a) 先校零值; 
(b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用 或 鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值; 
(c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用 或 鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。