膜厚測(cè)試儀經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，已經(jīng)有了很大的進(jìn)步。我們測(cè)量膜厚的方法有很多，這些方法也各有各的使用應(yīng)用特點(diǎn)，我們還是需要增加對(duì)于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來(lái)跟大家介紹一下膜厚測(cè)試儀的幾種測(cè)試方法。

　　1.金相顯微鏡法：利用顯微鏡光學(xué)原理，對(duì)物體進(jìn)行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構(gòu)。

　　應(yīng)用特點(diǎn)：破壞性測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)，價(jià)格昂貴。

　　2.庫(kù)倫法：根據(jù)庫(kù)侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積、鍍層金屬的電化當(dāng)量、密度以及陽(yáng)極溶解的電流效率計(jì)算鍍層的局部厚度。

　　應(yīng)用特點(diǎn)：破壞性測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)，消耗電解液，測(cè)量范圍小。測(cè)量直徑2mm以上。

　　3.磁性法：利用磁通量隨涂膜的非磁性層在磁體和底材之間厚度的變化而變化的原理來(lái)測(cè)定磁性金屬(鐵基)底材上的涂膜厚度。

　　應(yīng)用特點(diǎn)：便攜式，精度差，應(yīng)用范圍窄。測(cè)量直徑2mm以上。

　　4.電渦流法：利用感應(yīng)渦流隨儀器探頭線圈與基礎(chǔ)金屬間涂膜厚度的大小變化來(lái)測(cè)定非磁性金屬(非鐵基)底材上非導(dǎo)電涂層膜厚。

　　應(yīng)用特點(diǎn)：便攜式，精度差，應(yīng)用范圍窄。測(cè)量直徑2mm以上。

　　5.X光射線法：X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及厚度。

　　應(yīng)用特點(diǎn)：精確，測(cè)量鍍層范圍廣，能解決細(xì)微面積及超薄鍍層的測(cè)量。不但能快捷廣泛測(cè)量膜厚，還能分析成分。

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