隨著制造業(yè)的發(fā)展,業(yè)內(nèi)對(duì)材料的要求越來越高,材料加工市場(chǎng)越來越大,材料的涂鍍層種類也變的更加繁多,質(zhì)量要求也逐漸增加。市面上有很多膜厚測(cè)試的儀器，如今應(yīng)用比較多的是X射線熒光光譜測(cè)厚儀，那X射線熒光光譜測(cè)厚儀在進(jìn)行膜厚測(cè)試的時(shí)候有哪些特點(diǎn)呢?今天就和X射線熒光光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。

　　X射線熒光光譜測(cè)厚儀測(cè)試原理：使用X射線進(jìn)行波譜測(cè)量，進(jìn)而換算厚度，精度高 ，速度快，視機(jī)種可測(cè)試3-5層以上膜厚， 0.1mmψ以下面積也可測(cè)量。多層合金的成分含量也能計(jì)算。

　　X射線熒光光譜測(cè)厚儀有哪些特點(diǎn)呢?

　　1.價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬~100萬左右，可測(cè)試P(磷)~U(鈾)，并且支持Rohs及元素分析功能等。

　　2.無損檢測(cè)，Windows操作系統(tǒng)，使用簡(jiǎn)便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測(cè)，但體積較大，計(jì)算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。

　　3.測(cè)量厚度范圍較廣， 0.002um~100um左右，能測(cè)試5層以上膜厚，并且可以測(cè)量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

　　4.測(cè)量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

　　5.測(cè)頭的面積較小，對(duì)需測(cè)的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測(cè)量，基材厚度無要求。

　　6.可編程XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍。

　　以上就是X射線熒光光譜測(cè)厚儀廠家一六儀器對(duì)于X射線熒光光譜測(cè)厚儀的相關(guān)介紹，如果你想要了解更多內(nèi)容，歡迎聯(lián)系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)，在微小面積、異形高低面探測(cè)、多層多元素與多層同元素的檢測(cè)上，都具備更佳的表現(xiàn)。