便攜x射線熒光光譜儀既可用于材料的組成成分分析，也可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等，很多人都知道，XRF分析儀是通過X射線管產(chǎn)生入射X射線來激發(fā)樣品的。那么，這種XRF分析儀會對被檢測物造成傷害嗎?下面贏洲科技小編帶您詳細(xì)了解一下。

　　工作原理：

　　X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。

　　然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。

　　此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。用X射線照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長(或能量)分開，分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。

　　使用該儀器會對被檢測物造成傷害嗎?

　　正確使用便攜x射線熒光光譜儀一般不會對被測物造成傷害的，X射線是可控的，不會輕易脫離控制的。比較推薦的是奧林巴斯X射線熒光光譜儀，是由無損檢測元素組成的技術(shù)，對產(chǎn)品的損傷幾乎為零，所以在操作的時(shí)候*不用擔(dān)心。設(shè)備使用起來也很不錯(cuò)，通過可選無線局域網(wǎng)和藍(lán)牙功能，可以連接到云或其他設(shè)備，并且還具有嵌入式GPS，能將檢測結(jié)果與精準(zhǔn)的GPS坐標(biāo)配對，以此來記錄并繪制元素的位置。

　　X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素(原子序數(shù)Z=11)到鈾元素(原子序數(shù)Z=92)都可以利用這種技術(shù)進(jìn)行檢測分析。但是對于原子序數(shù)較低的元素(鈦元素Ti，Z=22以下)，空氣會對檢測結(jié)果產(chǎn)生較大影響;由低原子序數(shù)元素產(chǎn)生的熒光值通常更低，并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數(shù)元素的能量輻射。

　　通常情況下，用于提高低原子序數(shù)元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環(huán)境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。

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