理解EPK超聲波測(cè)厚儀的回波測(cè)量

來(lái)源：篤摯儀器（上海）有限公司 2022年10月18日 09:40

　　理解EPK超聲波測(cè)厚儀的回波測(cè)量

　　常規(guī)超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量帶漆層金屬的總厚度時(shí)將錯(cuò)誤地以鋼的聲速測(cè)量涂層，這意味著涂層將顯示至少2.35倍(兩種聲速的比值)其真實(shí)厚度的值。在涉及厚涂層和緊公差的情況下，由涂層引入的這種誤差可以為總厚度測(cè)量的很大一部分。這個(gè)問(wèn)題的解決方案是以這樣一種方法-從測(cè)量中將涂層成分去除-來(lái)測(cè)量或計(jì)算厚度。

　　回波-回波測(cè)量簡(jiǎn)單地應(yīng)用了在兩個(gè)相鄰底面回波間的時(shí)間間隔的成熟技術(shù)，這個(gè)時(shí)間間隔代表了透過(guò)檢測(cè)材料的聲波的連續(xù)往返行程時(shí)間。在那些帶涂層金屬的情況中，這些多次回波只能發(fā)生在金屬中而不是涂層中，因此任何一對(duì)回波的間隔，只代表了已去除涂層厚度后的金屬厚度。透過(guò)涂層測(cè)量要使用一個(gè)軟件來(lái)確定在涂層中一個(gè)往返行程代表的時(shí)間間隔。該時(shí)間間隔用于計(jì)算和顯示涂層厚度，并且通過(guò)從總測(cè)量值中減去該時(shí)間間隔，儀器也能計(jì)算和顯示金屬底層厚度。

　　上述每一種技術(shù)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，對(duì)一個(gè)特定的應(yīng)用都應(yīng)該考慮選擇哪一種方法：

　　EPK超聲波測(cè)厚儀透過(guò)涂層測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)：

　　1.能測(cè)量多種金屬厚度。

　　2.只需要一個(gè)回波。

　　3.在點(diǎn)蝕情況能更地測(cè)量剩余地zui小厚度。

　　透過(guò)涂層測(cè)量缺點(diǎn)：

　　1.涂層zui薄為0.125mm。

　　2.涂層表面應(yīng)當(dāng)比較光滑。

　　3.需要使用特定探頭。

　　4.zui高表面溫度大約為50℃。

　　回波-回波測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)：

　　1.可使用多種普通探頭工作。

　　2.常能穿透粗糙表面涂層工作。

　　3.用適當(dāng)?shù)奶筋^能在接近500℃的高溫下工作。

　　回波-回波測(cè)量缺點(diǎn)：

　　1.需要多次底面回波，在嚴(yán)重腐蝕的金屬中可能不存在多次底面回波。

　　2.厚度范圍比透過(guò)涂層測(cè)量限制更多。

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