ElektroPhysik*涂層測厚儀的校準標(biāo)準片與基體

來源：篤摯儀器（上海）有限公司 2022年10月18日 10:02

一、ElektroPhysik*涂層測厚儀的校準標(biāo)準片（包括箔和基體）

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標(biāo)準片。簡稱標(biāo)準片。

1、校準箔

對涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。

2、有覆蓋層的標(biāo)準片

采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準片。對于本儀器，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。

二、ElektroPhysik*涂層測厚儀的基體

1、對于涂層測厚儀標(biāo)準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標(biāo)準片的適用性，可用標(biāo)準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進行比較。

2、如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：

1）在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準片上校準；

2）用一足夠厚度的，電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

3、如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標(biāo)準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

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