EDX8800M MAX用于分析測(cè)定鎳礦

1背景介紹

長(zhǎng)期以來，鎳金屬生產(chǎn)的主要來源是巖漿硫化礦。但是隨著鎳金屬需求增加其他

資源變得更加需要。其中一個(gè)鎳來源是紅土，通常在露天礦中作為低品位礦床開采。為了

優(yōu)化鎳生產(chǎn)工藝監(jiān)測(cè)鎳的化學(xué)成分比以往任何時(shí)候都重要。除了Ni、Fe等常量元素外，

Si、Mg、Al、Ca、Ti、Cr、Mn、Co、Cu、和 Zn 通常以微量成分存在。

所有這些元素都可以使用EDX8800 MAX能量色散 X 射線熒光(EDXRF) 光譜儀。

該儀器提供了一個(gè)快速和精確控制采礦過程和后續(xù)的選礦過程。

這個(gè)應(yīng)用報(bào)告顯示了該儀器分析紅土鎳礦的性能，紅土鎳礦的前處理方式分為壓片和熔片法。

2光譜儀基本情況

EDX8800 MAX型X-射線熒光能譜合金分析儀是一種高性能的多元素分析系統(tǒng)。

EDX8800 MAX元素分析范圍：Na – U, 可滿足多種樣品類型，如固體，液體，塊狀，薄膜等。測(cè)量的濃度動(dòng)態(tài)范圍從ppm – 99%. 可適合多基體，多元素同時(shí)分析。 8位濾光片可滿足設(shè)置多種分析條件，優(yōu)化分析方法。儀器采用高分辨率FSDD檢測(cè)器，針對(duì)痕量元素具有超高探測(cè)靈敏度。優(yōu)化輸出的數(shù)字脈沖處理器DPP分析器，與用戶友好的界面互動(dòng)，極低的運(yùn)行和維護(hù)費(fèi)用。

3測(cè)量條件

英飛思開發(fā)了用XRF壓片法和熔片法樣品制備配合EDX8800 MAX光譜儀測(cè)定鎳礦中各個(gè)組分含量的試驗(yàn)方法,分析其準(zhǔn)確度和精密度。提高了經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益,并將分析結(jié)果與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分析結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，結(jié)果證明EDX8800 MAX真空型X射線能量色散熒光光譜分析儀滿足生產(chǎn)和質(zhì)量控制需求，符合客戶預(yù)期。

4樣品制備方法

樣品制備：

為了快速過程控制，樣品制備可以采用壓片法。由于簡(jiǎn)單明了的樣品制備過程，分析結(jié)果可在取樣后幾分鐘內(nèi)獲得。對(duì)于壓片法，我們?nèi)?/span>10.0 g 研磨至200目的鎳礦樣品與 2.5 g的蠟粘合劑并用壓片機(jī)加壓至20噸持續(xù) 15 秒 。

對(duì)于熔片法，其可以消除任何礦物學(xué)基體影響，因此允許測(cè)量來自不同露天礦的更廣泛的樣本。熔片法需要取0.80 克礦石樣品和 8.00 g 助焊劑（四硼酸鋰 50% + 鋰

偏硼酸鹽50 %)。在熔片機(jī)中高溫處理后形成待測(cè)樣本。

壓片法制備過程如上圖所示

熔片法制備過程如上圖所示

樣品制備完成后在真空條件下測(cè)量，避免使用昂貴的氦氣作為吹掃氣體。這個(gè)測(cè)量條件大大降低了成本每個(gè)樣本并大大降低了實(shí)際的使用成本

5 ED-XRF8800 MAX精密度分析

連續(xù)10次測(cè)試鎳礦標(biāo)樣結(jié)果如下

6鎳礦各個(gè)組分標(biāo)定含量范圍

7 結(jié)論

EDX8800 MAX專門針對(duì)多種場(chǎng)景下的測(cè)試需要而設(shè)計(jì)，無論是在工廠車間還是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，其的分析能力，靈活性和易操作性使其在多種應(yīng)用中具有廣泛的吸引力，滿足快速測(cè)定鎳礦中各元素含量。

無論是基本的質(zhì)量控制（QC）還是更為復(fù)雜的監(jiān)測(cè)或探測(cè)分析，EDX8800 MAX XRF光譜儀都是進(jìn)行常規(guī)元素分析的可靠選擇。