芯片三輪往復循環(huán)測試機

來源：上海衡翼精密儀器有限公司 2024年11月22日 07:15

芯片三輪往復循環(huán)測試機

芯片卡滾壓測試儀產(chǎn)品介紹：?識別卡測試方法?ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三輪壓力測試儀根據(jù)IC卡CQM項目對卡三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試。
HY(SL)三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試。卡被放到機器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測試，檢查芯片情況，芯片應該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準推薦的測試。
1.型號：HY(SL)
2、測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、電源 AC220V
4、外形尺寸（mm）: 長255 ×寬235 ×高285
5、重量（KG）：12kg

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