X射線熒光光譜儀在ROHS檢測中的優(yōu)劣勢

來源：深圳德譜儀器有限公司 2025年05月24日 07:24

許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來完成作業(yè)的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。

X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。

然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量，在有關X射線熒光光譜儀技術原理我們有更多的關于X射線熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關介紹。

下面讓我們來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點都有哪些？

XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要有六個組成部分，他們分別是：

1.分析速度高

測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。

2.X射線熒光光譜跟樣品化學結合狀態(tài)無關

X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

3.化學狀態(tài)的改變

非破壞分析在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

4.物理分析法

X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

5.分析精密度高。

制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只有三項，他們分別是：

1.難于作分析，故定量分析需要標樣。

2.對輕元素的靈敏度要低一些。

3.容易受相互元素干擾和疊加影響。

文章來源：源興光學

深圳德譜儀器有限公司是一家以光譜（XRF）、色譜、質譜產品為核心的研發(fā)、生產和銷售的高科技企業(yè)；旗下?lián)碛猩钲谑惺⑼_儀器設備有限公司和深圳市德澤威檢測技術有限公司兩家全資子公司，同時控股著香港松盛電子有限公司和深圳龍崗萬達工業(yè)園。我們具有X熒光技術結合專家共同組成的研發(fā)團隊，在各種領域有出色的成就，其中光譜儀，色譜儀和質譜儀已有廣泛的應用。

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