試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

代號(hào)

名稱

代號(hào)

名稱

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB5170.2

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB2423.22

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.3

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱

GB5170.5

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.4

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱

GB2423.9

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱

GB2423.16

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長霉

GB2423.17

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧

GB5170.8

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.18

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：交變鹽霧

GB2423.19

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

GB5170.11

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.20

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法