電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度變化類試驗(yàn)項(xiàng)目有眾多名稱：溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊、溫度梯度、分級(jí)溫度等名稱。且不同體系的標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)用的試驗(yàn)方法是不同的，如何區(qū)分這些試驗(yàn)項(xiàng)目，如何選擇試驗(yàn)項(xiàng)目，這需要對(duì)各類型試驗(yàn)的來源以及其區(qū)別進(jìn)行分析。
本文針對(duì)的試驗(yàn)項(xiàng)目是溫度變化類的，對(duì)于濕熱類，溫濕度循環(huán)等試驗(yàn)項(xiàng)目后續(xù)再以專題敘述。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱來源：各類標(biāo)準(zhǔn)中的溫度變化試驗(yàn)均來源于IEC60068-2-14試驗(yàn)方法N：溫度變化中的Nb。在特定溫度變率之溫度變化試驗(yàn)。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱定義：
   電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱為設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)變。故在實(shí)際應(yīng)用中有兩類：一類為慢速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率<3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min)，也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變?cè)囼?yàn)(此三類為一種試驗(yàn))；另一類為快速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率≥3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min)，也既一般應(yīng)用中的快速溫變?cè)囼?yàn)。溫度變化速率越快，考核越嚴(yán)酷。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱目的及應(yīng)用范圍：
   電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于組件、裝備或其它產(chǎn)品。為產(chǎn)品模擬帶電工作時(shí)隨溫度的變化，如在系統(tǒng)/組件工作時(shí)快速改變周圍溫度。如果系統(tǒng)/組件處在熱浸透溫度(例如安裝在發(fā)動(dòng)機(jī)上的系統(tǒng)/組件)，高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產(chǎn)品在這期間的基本功能。為避免系統(tǒng)/組件內(nèi)的電熱擴(kuò)散抑制系統(tǒng)/組件達(dá)到低溫的效果，故在降溫階段將產(chǎn)品關(guān)閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障。
注：電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱不是壽命試驗(yàn)。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度變化試驗(yàn)：
   電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱各類標(biāo)準(zhǔn)中建議采用ISO16750-45.3.1溫度變化試驗(yàn)，具體試驗(yàn)程序應(yīng)用于非發(fā)動(dòng)機(jī)艙產(chǎn)品，應(yīng)用于發(fā)動(dòng)機(jī)艙中零部件，因?yàn)槠渚哂邪l(fā)動(dòng)機(jī)熄火后的余熱考核，故在溫度變化中加入了極限高溫貯存的考核。
   電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱工程師在制定標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)時(shí)對(duì)于溫度變化類的試驗(yàn)有很多不同的見解，且此類試驗(yàn)名稱過多，導(dǎo)致實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)了一些不恰當(dāng)?shù)氖褂梅椒?。本文特?duì)溫度變化類試驗(yàn)進(jìn)行解讀，一方面對(duì)各類試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行分析，另一方面推薦使用合適的標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目，以供各工程師參考使用。