ICP光譜儀發(fā)射常見問題 

 １、影響等離子體溫度的因素有： 

  載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降； 

   載氣的壓力：激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加； 

   頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而增高，近似線性關(guān)系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低； 

   第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑（如T1）的等離子體，電子溫度將增加。

 ２、電離干擾的消除和抑制  

     原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少，因而降低分析信號。

     在標(biāo)準(zhǔn)和分析試樣中加入過量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當(dāng)高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。

     此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。

 ３、試劑酸度對ICP-AES法的干擾效應(yīng)主要表現(xiàn)在哪些方面？ 

     提升率及其中元素的譜線強度均低于水溶液；

     隨著酸度增加，譜線強度顯著降低；

     各種無機酸的影響并不相同，按下列順序遞增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；譜線強度的變化與提升率的變化成正比例。

 ４、ICP-AES法中的光譜干擾主要存在的類型 

     譜線干擾；

     譜帶系對分析譜線的干擾；

    連續(xù)背景對分析譜線的干擾； 

     雜散光引起的干擾。

 ５、ICP-AES法分析中靈敏度漂移的校正

     在測定過程中，氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態(tài)原子的分布；

     另外，毛細(xì)管阻塞、廢液排泄不暢，會使溶液提升量和霧化效率受到影響；

     以及電壓變化等諸多因素都會使靈敏度發(fā)生漂移，其校正方法可每測１０個樣品加測一個與樣品組成接近的質(zhì)控樣，并根據(jù)所用儀器的新舊程度適當(dāng)縮短標(biāo)準(zhǔn)化的時間間隔。

 ６、ICP分析中如何避免樣品間的互相沾污？ 

    測量時，不要依次測量濃度懸殊很大的樣品，可把濃度相近的樣品放在一起測定，測定樣品之間，應(yīng)用蒸餾水或溶劑沖洗之。  

 ７、ICP-AES法中，用來分解樣品的酸，必須滿足的條件  

     盡可能使各種元素迅速、分解；所含待測元素的量可忽略不計；

     分解樣品時，待測元素不應(yīng)損失；與待測元素間不形成不溶性物質(zhì)；

     測定時共存元素的影響要小；不損傷霧化器、炬管等。  

 ８、在ICP-AES法中，為什么必須特別重視標(biāo)準(zhǔn)溶液的配置？ 

     不正確的配置方法將導(dǎo)致系統(tǒng)偏差的產(chǎn)生；

     介質(zhì)和酸度不合適，會產(chǎn)生沉淀和渾濁；

     元素分組不當(dāng)，會引起元素間譜線干擾；

     試劑和溶劑純度不夠，會引起空白值增加、檢測限變差和誤差增大。

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