實(shí)驗室溫度控制在 23±2℃，相對濕度 50%±5%，避免強(qiáng)光直射、劇烈振動及電磁干擾；

檢測臺面保持平整清潔，無油污、粉塵等雜物影響樣品放置。

檢查電源線、數(shù)據(jù)線連接牢固，外觀無破損，打開電源后完成自檢，確保故障提示；

清潔光學(xué)鏡頭與載物臺，去除污漬、指紋，避免影響成像清晰度；

用標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)力塊校準(zhǔn)儀器，確認(rèn)光程差測量誤差在 ±2 nm 內(nèi)，符合精度要求。

待測藥用玻璃瓶需去除表面油污、灰塵，確保瓶身無劃痕、變形等缺陷；

退火后的樣品需在實(shí)驗室靜置 30 分鐘以上，消除溫度差異對檢測結(jié)果的影響；

記錄樣品規(guī)格（材質(zhì)、瓶型、壁厚）、生產(chǎn)批次等基礎(chǔ)信息。

將四分之一波片置入視場，調(diào)整儀器至暗視場模式；

把樣品垂直居中放置于載物臺，確保瓶底正對光學(xué)鏡頭；

觀察暗十字分裂形成的藍(lán)灰色（凹側(cè)）與褐色（凸側(cè)）圓弧，旋轉(zhuǎn)檢偏鏡至藍(lán)灰色全部覆蓋褐色區(qū)域；

記錄光程差數(shù)據(jù)，測量瓶底厚度，自動計算內(nèi)應(yīng)力值。

調(diào)整樣品軸線與偏振平面呈 45°，定位瓶體Max大應(yīng)力區(qū)域；

旋轉(zhuǎn)檢偏鏡使暗區(qū)取代亮區(qū)，記錄測量數(shù)據(jù)，測量兩側(cè)壁厚度之和；

重復(fù) 3 次測量，取平均值作為終結(jié)果。

采用平均法測試，記錄暗區(qū)取代亮區(qū)的旋轉(zhuǎn)角度（A）及亮區(qū)重現(xiàn)的總角度（B）；

計算平均角度 θ=(A+B)/2，結(jié)合樣品厚度換算光程差與內(nèi)應(yīng)力值；

儀器支持直接讀取光程差（適配 2025 版藥典修訂要求），無需手動換算。

合格標(biāo)準(zhǔn)：內(nèi)應(yīng)力光程差≤40 nm/mm，無局部應(yīng)力集中現(xiàn)象；

不合格處理：標(biāo)記不合格樣品批次，追溯退火工藝參數(shù)并優(yōu)化；

數(shù)據(jù)存儲：通過儀器內(nèi)置系統(tǒng)或?qū)?LIMS 系統(tǒng)，存儲原始數(shù)據(jù)、干涉圖像及檢測報告，滿足 GMP 數(shù)據(jù)追溯要求。

每次使用后清潔載物臺、光學(xué)鏡頭，用專用擦拭布去除殘留污漬；

每周檢查儀器密封性能，避免灰塵進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)；

長期不用時關(guān)閉電源，存放于干燥、通風(fēng)環(huán)境，避免潮濕損壞部件。

校準(zhǔn)周期：每 12 個月進(jìn)行一次校準(zhǔn)，或測試數(shù)據(jù)異常時及時校準(zhǔn)；

校準(zhǔn)項目：光程差精度、角度測量準(zhǔn)確性、顯示系統(tǒng)穩(wěn)定性；

校準(zhǔn)依據(jù)：使用標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)力塊，嚴(yán)格按照儀器操作規(guī)程執(zhí)行，保存校準(zhǔn)證書。