摘要 應(yīng)用范圍：

摘要 美國(guó)PSS不溶性微粒分析儀是不溶性微粒檢測(cè)儀器的始發(fā)者。所有擁有較多行業(yè)的指導(dǎo)權(quán)。

摘要 DT 電聲電震法通用型Zeta電位分析儀 DT-330 能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),包括顆粒、沉積物和多孔材料

摘要 DT 電聲法Zeta電位分析儀 DT-300/DT-310 其開(kāi)發(fā)可應(yīng)用于CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。

摘要便攜式氧化還原電位儀(ORP/Eh)作為土壤環(huán)境條件的一個(gè)綜合性指標(biāo)，已沿用很久，它表征介質(zhì)氧化性或還原性的相對(duì)程度，對(duì)土壤的化學(xué)和生物學(xué)過(guò)程有重要的影響，是理解土壤的性質(zhì)和過(guò)程的重要參數(shù)。氧化還原電位越高，氧化性越強(qiáng)，氧化還原電位越低，還原性越強(qiáng)。電位為正表示溶液顯...

摘要氧化還原電位分析儀(ORP/Eh)作為土壤環(huán)境條件的一個(gè)綜合性指標(biāo)，已沿用很久，它表征介質(zhì)氧化性或還原性的相對(duì)程度，對(duì)土壤的化學(xué)和生物學(xué)過(guò)程有重要的影響，是理解土壤的性質(zhì)和過(guò)程的重要參數(shù)。氧化還原電位越高，氧化性越強(qiáng)，氧化還原電位越低，還原性越強(qiáng)。電位為正表示溶液顯示...

摘要氧化還原電位計(jì)(ORP/Eh)作為土壤環(huán)境條件的一個(gè)綜合性指標(biāo)，已沿用很久，它表征介質(zhì)氧化性或還原性的相對(duì)程度，對(duì)土壤的化學(xué)和生物學(xué)過(guò)程有重要的影響，是理解土壤的性質(zhì)和過(guò)程的重要參數(shù)。氧化還原電位越高，氧化性越強(qiáng)，氧化還原電位越低，還原性越強(qiáng)。電位為正表示溶液顯示出一...

摘要 多功能智能納米激光粒度儀一：產(chǎn)品介紹：Nano9200系列多功能智能納米激光粒度儀用于測(cè)量顆粒粒度與Zeta電位

摘要 美國(guó)CD公司高濃度zeta電位分析儀

摘要 Zeta電位儀是一種用于測(cè)量溶液中顆?；蚪缑娴腪eta電位的儀器。Zeta電位是表征帶電顆?；蚪缑姹砻骐姾蔂顟B(tài)的物理量，它影響著顆?；蚪缑娴姆€(wěn)定性、相互作用和分散性質(zhì)。

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

摘要納米粒度儀及zeta電位分析儀當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號(hào)隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)...

摘要 型號(hào) Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 簡(jiǎn)介 SZ-100V2 只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

摘要型號(hào) Horiba激光粒度分析儀 Partica mini LA-350 簡(jiǎn)介 HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域?；贚A系列分析儀的光學(xué)設(shè)計(jì)，LA-350...

摘要 型號(hào) Horiba激光粒度分析儀Partica LA-960V2 簡(jiǎn)介 LA-960V2 是一款高精度粒徑分析儀，能夠測(cè)量NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子，精度達(dá) 0.6% ，重復(fù)性達(dá)0.1%，符合 ISO 13320 關(guān)于 所測(cè)材料D10、D50 和 D90的建議。

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS超聲粒度儀，美國(guó)MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1)采用專門(mén)的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡(jiǎn)易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅(jiān)固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡(jiǎn)易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅(jiān)固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS高濃度超聲法粒度儀，應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅（ESA）技術(shù)用于高百分比之固體Zeta表面測(cè)量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1）能分析多種分散物的混合體

摘要 產(chǎn)品參數(shù)Zeta電位胤煌科技，Zeta可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS粒度和Zeta電位測(cè)定儀,Zeta可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaZeta電位分析儀，Zeta可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀，樣品的高濃度可達(dá)60%（體積比），被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠皆可直接測(cè)量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)原液電聲法zeta電位分析儀可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS多功能超聲法粒度分析儀，美國(guó)MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MASZetaZF400型多功能超聲電聲法粒度儀，可測(cè)量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS超聲法粒度檢測(cè)儀

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析

摘要 土壤氧化還原電位計(jì)主要用于現(xiàn)場(chǎng)原位測(cè)試新鮮或濕潤(rùn)土壤的氧化還原電位，水（介質(zhì)）氧化還原電位、PH、溫度等數(shù)據(jù)的測(cè)量。符合《HJ746-2015土壤氧化還原電位的測(cè)定電位法》標(biāo)準(zhǔn)。

摘要 產(chǎn)品參數(shù)AREPA原液在線納米粒度儀在線粒度測(cè)量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲電聲法Zeta電位分析儀該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測(cè)試該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)APS-100高濃度納米粒度儀，APS從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品

摘要 產(chǎn)品參數(shù)APS100納米粒度儀美國(guó)MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測(cè)、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS高濃度納米粒度儀APS從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品

摘要 產(chǎn)品參數(shù)APS100高濃度納米粒度儀，APS從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品

摘要 CHI1100C系列為大功率恒電位儀/恒電流儀，主要用于需要較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用，例如電池，腐蝕，電解，電鍍等

摘要 CHI1000C系列為八通道恒電位儀，可用于傳感器等需要多工作電極同時(shí)測(cè)量的條件下或其它電化學(xué)應(yīng)用

摘要 CHI700E系列是通用雙恒電位儀，可同時(shí)控制同一電解池中的兩個(gè)工作電極的電位，其典型應(yīng)用是旋轉(zhuǎn)環(huán)盤(pán)電極，也能被用于其它需要雙工作電極的情況下

摘要 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要 一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：本產(chǎn)品DJS系列恒電位儀是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：本產(chǎn)品DJS系列恒電位儀是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 型號(hào)DJS-292（帶232接口）電位控制范圍±2V