摘要 本設(shè)備基于雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。

摘要 SE-VE橢偏儀是基于單旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。

摘要橢偏儀折射率介電常數(shù)GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久...

摘要橢偏儀測介電常數(shù)GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介...

摘要 采用雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)，可測量穆勒矩陣的全部16個(gè)單元，RC2是J.A.Woollam公司的的光譜橢偏儀產(chǎn)品。

摘要 儀器廠商：美國J.A.Woollam公司型號：M-2000DI到貨日期：2008.4.19技術(shù)指標(biāo)：●波長范圍：190~1700nm●光譜分辨率：1.6nm（波長小于1000nm）

摘要 SE-1000型橢偏儀采用手動(dòng)變角裝置來設(shè)定測試的入射角，樣品臺采用手動(dòng)方式，在測試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下，為客戶提供了一款競爭力的橢偏測試設(shè)備

摘要 光譜橢偏儀/SpectroscopicEllipsometerSE2000型光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究

摘要 簡單介紹： 除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可變測量機(jī)制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動(dòng)連接/分離機(jī)制，還提高了測量精度。

摘要 SmartSE,智能型多功能橢偏儀SmartSE是一款通用型薄膜測量工具

摘要 Auto SE一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀

摘要 橢偏儀

摘要 橢偏儀應(yīng)用光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性的光學(xué)測量設(shè)備

摘要 全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性

摘要 多角度激光橢偏儀使用632.8nm波長HeNe激光器，對測量薄膜厚度，折射率和吸收系數(shù)有非常出色的精度。儀器能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料（基底）。

摘要 用于橢偏儀或其它光譜儀等設(shè)備。

摘要SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設(shè)計(jì)了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和防反射涂層。分析了單晶和多晶硅太陽電池的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。在配方模式下進(jìn)行復(fù)雜的測量，速度快，操作容易...

摘要 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。

摘要 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。

摘要 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀SE 400adv表征吸收膜特征。

摘要 SENDURO 全自動(dòng)光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動(dòng)樣品對準(zhǔn)，自動(dòng)測量和分析結(jié)果。在全自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。

摘要 SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

摘要 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5。操作簡單，快速測量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計(jì)來測量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。

摘要德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣...

摘要 一、產(chǎn)品介紹：20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進(jìn)行精確的測量。采用PEM相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。二、產(chǎn)品參數(shù)

摘要 橢偏儀 FILM SENSE可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征.

摘要光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長范圍。DUV范圍可用于測量超薄膜，如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物，其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測量許多材料的帶隙時(shí)，深紫外光譜橢偏儀也是的?？梢娀蚪t外范圍用于測量相對厚或非常厚的涂層。當(dāng)然，如果必須確定光學(xué)常數(shù)...

摘要 SpecEl橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實(shí)...

摘要 SE-PV光伏橢偏儀

摘要 SE-i 光譜橢偏儀

摘要 SE-Glass 光譜橢偏儀

摘要 SE-Mapping光譜橢偏儀

摘要 SE-L光譜橢偏儀

摘要 SE-VE光譜橢偏儀

摘要 ME-L全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀

摘要 SE-VM光譜橢偏儀

摘要 智能型多功能橢偏儀 Smart SE

摘要 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE

摘要 研究級經(jīng)典型橢偏儀-UVISEL

摘要 光譜型橢偏儀

摘要 組合式多功能橢偏儀

摘要 第3代FilmSense多波長橢偏儀系統(tǒng)現(xiàn)已上市！這一代的主要改進(jìn)是電動(dòng)源偏振器，它支持自動(dòng)校準(zhǔn)和區(qū)域平均測量

摘要技術(shù)參數(shù)：光譜范圍：190-2100 nm8種光斑尺寸: 小35 X 85 um探測器：3個(gè)獨(dú)立探測器，分別優(yōu)化紫外，可見和近紅外自動(dòng)樣品臺尺寸：200mm X 200mm；XYZ方向自動(dòng)調(diào)節(jié); Z軸高度35mm樣品水平度自動(dòng)調(diào)整自動(dòng)量角器：變角范圍35- 90，全自...

摘要 Gaertner LSE-2A2W 進(jìn)口橢偏儀。

摘要高精度光譜橢偏儀！可以精確測量折射指數(shù)、消光系數(shù)（n & K)，膜厚等，廣泛適用于半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、金屬等材料，單層薄膜和多層膜。客戶包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywe...