有價格優(yōu)勢的*薄膜測量系統(tǒng)F10-HC薄膜厚度測量儀

以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件*的*模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

前所未見的簡易操作界面F10-HC薄膜厚度測量儀

現(xiàn)在，具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用，這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁)，并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結(jié)果是否有效，并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。

不需要手動基準校正

F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。

背面反射干擾

背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術(shù)的挑戰(zhàn)，具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響小化，使用者能以較高的精準度來測量涂層厚度。

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UNICORN是翌穎科技（上海）有限公司旗下的品牌

旗下有測厚儀，臺階儀，納米壓痕儀，橢偏儀等等多種儀器。