XUL X射線熒光鍍層厚度測試儀器

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點。

有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優(yōu)點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整。測試點會自動地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是一家實現(xiàn)了這種設(shè)計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。

與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以上乘地適應(yīng)于快速，非破壞性和**的測量珠寶及貴金屬中金的成分。

Available versions

FISCHERSCOPE® XUL(M)                      Version with fixed test plate.

FISCHERSCOPE® XUL(M)-Xym               Version with manual test stage

X Y travel 50 mm x 50 mm

Dimensions

Measurement head                         width = 455 mm; depth = 580 mm; height = 510 mm

Measurement chamber                     width = 360 mm; depth = 380 mm; height = 240 mm

涂裝 相關(guān)儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱