電子探針-定性（點）分析

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更新時間2026-06-26

武漢上譜分析科技有限責任公司

廠商性質其他
所在地區(qū)武漢市
實名認證已認證
產品數(shù)量74
人氣值1699

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產品簡介在線詢價

測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

電子探針-定性（點）分析產品詳情

測試項目：電子探針
測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數(shù)據(jù)質量；2、提前將測試點位用半圓圈起，并將各點位直線連接以便測試時快速定位，具體請咨詢相關技術人員。
完成標準：儀器狀態(tài)良好，監(jiān)控標樣測試值在允許誤差范圍內。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號為日本電子（JEOL）JXA8230
硅酸鹽測試條件為：
電流：2*10^-8A、電壓：15kV
束斑：常規(guī)元素spot（≈1μm）、揮發(fā)性元素3μm，礦物顆粒不小于3um
采樣時間：peak 10s、back5s、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硫化物測試條件為：
電流：5*10^-8A、電壓：15kV
束斑：spot（≈1μm）
采樣時間：peak 10s、back5s 、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硅酸鹽礦物各元素含量校正標樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標樣為純物質：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標樣。
數(shù)據(jù)校正采用日本電子（JEOL）的ZAF校正方法進行修正

關鍵詞：電子探針標準

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