輻射保護(hù)

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

● 輻射標(biāo)志警示

●儀器經(jīng)第三方檢測(cè)，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》

硬件技術(shù)

● X射線下照式，激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉(cāng)，對(duì)于大件樣品、異形不平整樣品，無(wú)需拆分打磨，可直接測(cè)試

● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率

● 最小光斑0.2mm，可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)精確定位，避免材質(zhì)干擾，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確

● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；*設(shè)計(jì)

● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

軟件技術(shù)（HeLeeX ED Workstation V3.0）

● 分析元素：Na~U之間元素

● 分析時(shí)間：90秒

● 界面簡(jiǎn)潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易操作

● 數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全

● 根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度

● 配備開(kāi)放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。