高性能模塊化設(shè)計，根據(jù)用戶的應(yīng)用，配置不同的系統(tǒng)，適合各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）

TriVista CRS+ 系統(tǒng)概述

● 高性能模塊化設(shè)計，根據(jù)用戶的應(yīng)用，配置不同的系統(tǒng)，各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）

● 超高分辨率(0.14cm-1)，超低波數(shù)(<5cm-1)，的雜散光抑制、高靈敏度

● 加模式，減模式同一光路，軟件轉(zhuǎn)換模式后，不需要校正光路

● 內(nèi)置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉(zhuǎn)換光柵后，不需要校正光路

● 同時觀察斯托克斯-反斯托克斯

● 高通光率光譜儀，焦長可選：500/500/500mm, 500/500/750mm, 750/750/750mm

● 光譜檢測器可配置高量子效率（QE>95%）的CCD、EMCCD、 ICCD、InGaAs陣列，也可配置各種單點探測器

● 顯微鏡可配置OLYMPUS BX51正置或IX71倒置研究級顯微鏡，XYZ自動平臺

● 可配置大樣品箱，用戶自有樣品箱、真空樣品箱、高低溫樣品臺、磁場

● 多個狹縫入口，多個CCD和狹縫出口，可擴展性，可耦合拉曼光纖探頭，掃描顯微鏡

● 穩(wěn)態(tài)激光器，脈沖激光器，OPO激光器，UV-IR任意波長

● 可擴展為TCSPC系統(tǒng)

● 系統(tǒng)設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，光路不受溫度影響，不需專業(yè)人員維護

特點：

*性

● TriVista系列三級拉曼光譜系統(tǒng)在加模式下，分辨率可達到 0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨

● TriVista系列三級拉曼光譜系統(tǒng)，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，對激光器波長沒有選擇性，無需濾光片，低波數(shù)測量可到5cm-1以下

● TriVista系列三級拉曼光譜儀應(yīng)用PI*銳利線削減技術(shù)，不需轉(zhuǎn)動光柵即可在一個CCD窗口內(nèi)，同時得到低波數(shù)的Stokes/AntiStokes拉曼光譜，避免光柵

轉(zhuǎn)動帶來的位置誤差。受激光器的限制，很多用戶對熒光的干擾無所適從，AntiStokes可以對您有所幫助

● 系統(tǒng)結(jié)合原子力，可以實現(xiàn)TERS針尖增強拉曼光譜測試，可以解決納米尺度下的樣品信號的檢測

● 共振拉曼分析：結(jié)合可調(diào)諧波長的激光器，實現(xiàn)變激發(fā)波長共振拉曼分析，對于不同禁帶寬度的材料，系統(tǒng)的側(cè)通用性與適用性， 解決了單一波長激

光器挑材料的問題，比如對碳納米材料吸收區(qū)，會長隨材料特性改變，單一波長激光器無法獲得有用信息

高分辨率

● 對于半導體壓力/應(yīng)力、碳納米管，同質(zhì)異構(gòu)的多形態(tài)現(xiàn)象、精細的鍵合效應(yīng)等研究，必須使用高色散分光系統(tǒng)，得到高分辨率光譜，以得到更加詳細的樣

品信息，發(fā)現(xiàn)樣品拉曼峰的細微差異

● 小型拉曼光譜儀受到光譜儀焦長和光柵的限制，光譜分辨率通常在0.5cm-1/pixel到1cm-1/pixel

● TriVista系列三級拉曼光譜系統(tǒng)在加模式下，分辨率可達到0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨

加模式、減模式同一光路

● 軟件轉(zhuǎn)換模式后，不需要校正光路

● 內(nèi)置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉(zhuǎn)換光柵后，不需要校正光路

低波數(shù)

● 小型拉曼光譜儀作為實驗室通用儀器，使用Notch Filter或Edge Filter濾除瑞利線散射光，由于濾光片的技術(shù)限制，測量頻率在100cm-1左右，適合

于常規(guī)樣品的測試

● 低波數(shù)拉曼光譜（0-100cm-1)是一個*的分析工具，在多個科研領(lǐng)域，例如單壁/多壁碳納米管，晶體的晶格振動，聚合物、超晶格半導體材料等，

液體，混合物等，幫助確定這些樣品的動態(tài)結(jié)構(gòu)。對于這類樣品，只有使用三級拉曼光譜測試系統(tǒng)，用光譜儀的相減模式，濾除銳利線散射光

● TriVista系列三級拉曼光譜系統(tǒng)，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，低波數(shù)測量可到5cm-1以下

超高靈敏度

● 液氮制冷探測器，采用Pricenton Instruments探測器,超低噪音，可實現(xiàn)長達1h曝光時間

● 不同面陣和像素尺寸的探測器

● InGaAs陣列探測器

● 針對快速拉曼mapping可采用電子增益型探測器

● 紋波效應(yīng)的背照式eXcelon探測器

不同探測器的QE曲線 高效率鍍膜反射鏡

系統(tǒng)可靈活擴展

● 顯微鏡頭等三光柵配置，可覆蓋UV-IR波段。可做熒光、PL、時間分辨光譜，熒光壽命

- 深紫外至近紅外波長范圍(200至1600nm)

- 最多4個集成多線激光器和端口

- 大型外部激光器

- 紫外線和可見光/近紅外雙光束路徑

- 從紫外到近紅外的拉曼濾光片

- 適用于488、514、532，633、785和1064nm

● 大樣品的宏觀特性：可放置1x1cm比色皿，尺寸5x5x5cm的固體樣品，粉末，粉末壓片，薄膜等

● 宏光路耦合輸入端：可耦合到高壓樣品池，高低溫杜瓦，真空樣品箱，電化學樣品池等。也可與光纖耦合或使用標準照相機鏡頭

● 可做吸收，透射，正反射，任意角度激發(fā)

● 異形樣品箱

● 拉曼探頭

系統(tǒng)性能參數(shù)

● 波長范圍：深紫外到近紅外波長范圍

● 集成多達4個激光器，可選配外接大型激光器端口

● 紫外和可見光/近紅外雙光束路徑

● 自動控制激光選擇

● 自動對準，聚焦和校準功能

● 超高拉曼光譜分辨率，例如FWHM＜0.1cm-1@633nm

● 三級減模式無需濾光片，低波數(shù)可測試到+/-5cm-1

● 高波數(shù)范圍可達9000cm-1(@532nm)，適用于光致發(fā)光

● 熱電制冷和液氮制冷探測器

● 正置/倒置/雙顯微鏡

● 步進電機和壓電驅(qū)動XYZ位移臺

● 快速拉曼mapping

● 集成控制加熱/冷卻臺，液氦溫度低溫恒溫器

● 可結(jié)合拉曼成像和原子力顯微鏡成像

● 自動控制的偏振光譜功能

應(yīng)用領(lǐng)域：

● 適用研究在納米尺度下，以氮化鎵(GaN)、氧化鋅(ZnO)為代表的第三代半導體材料

● 寬禁帶Ⅱ-Ⅵ族半導體發(fā)光、激光與光電探測材料、器件等研究

● 高壓科學研究中，材料、器件，以及能量轉(zhuǎn)換過程研究