LX-609蘋(píng)果數(shù)據(jù)線(xiàn)綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品說(shuō)明
品說(shuō)明產(chǎn)品名稱(chēng):LX-609蘋(píng)果數(shù)據(jù)線(xiàn)綜合測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):LX-609
【簡(jiǎn)介】
手機(jī)已成為的電子產(chǎn)品,各種外圍產(chǎn)品也幸運(yùn)而生,本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù),適時(shí)推出相應(yīng)的檢測(cè)設(shè)備,為您提高生產(chǎn)效率,為您的品質(zhì)保駕護(hù)航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機(jī)充電器檢測(cè)儀器,適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
【功能特點(diǎn)】
※ 采用32位ARM高速處理器設(shè)計(jì)。
※ 支持iPhone6,iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6數(shù)據(jù)線(xiàn)、充電線(xiàn)。
※ 支持iOS6,iOS7,iOS8操作系統(tǒng),支持MFI認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線(xiàn)和山寨高仿數(shù)據(jù)線(xiàn)、C10B、C48方案等。
※ 雙面測(cè)試,插一次即可全部測(cè)完,提高效率。
※ 負(fù)載電流可以設(shè)定0-3A,可以設(shè)為2.4A實(shí)測(cè)iPad數(shù)據(jù)線(xiàn),充分保證線(xiàn)材指標(biāo)。
※ 準(zhǔn)確測(cè)出D+、D-電阻,可以檢測(cè)出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。
※ 可測(cè)出D+、D-漏電阻,并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果,漏電阻過(guò)小會(huì)影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。
※ 由于USB座使用率很高,容易損壞,所以USB座采用分體設(shè)計(jì),方便更換。
※ 可測(cè)試出具體故障點(diǎn),以便技術(shù)人員對(duì)線(xiàn)進(jìn)行檢修。
※ 各種保護(hù)措施避免儀器使用過(guò)程中受到損壞,防靜電保護(hù),防短路保護(hù),直接短路USB電源也不會(huì)損壞。
※ 插入被測(cè)產(chǎn)品自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。
※ LCD中文顯示屏。
※ 同時(shí)有聲音和LED指示測(cè)試結(jié)果。
※ 設(shè)置的測(cè)試參可掉電保存。
※ 可以連接電腦,有PC軟件,實(shí)現(xiàn)更多功能,也可單獨(dú)使用。
※ 通過(guò)PC軟件對(duì)蘋(píng)果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。
※ 可以在線(xiàn)升級(jí),使儀器隨時(shí)擁的功能,如果儀器有問(wèn)題,可使用在線(xiàn)升級(jí)經(jīng)松解決,不必返廠。
【檢測(cè)項(xiàng)目】
檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)內(nèi)容 | 蘋(píng)果數(shù)據(jù)線(xiàn) | 蘋(píng)果充線(xiàn) | 蘋(píng)果數(shù)據(jù)頭 | 蘋(píng)果充電頭 |
空載電壓 | 輸出電壓是否達(dá)標(biāo) | √ | √ | √ |
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輕負(fù)載電壓 | 輸出電壓是否達(dá)標(biāo) | √ | √ | √ | √ |
重負(fù)載電壓 | 輸出電壓是否達(dá)標(biāo) | √ | √ | √ | √ |
D+ | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ | √ | √ |
D- | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ | √ | √ |
屏蔽線(xiàn) | 懸空、接VCC、接GND、直通 | √ | √ | √ | √ |
認(rèn)證芯片 | 通信、認(rèn)證、版本、序列號(hào) | √ | √ | √ | √ |
MOS管 | 是否可正常控制、開(kāi)路、短路 | √ | √ |
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待機(jī)電壓 | 待機(jī)電壓是否正常 | √ | √ |
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接線(xiàn)位置 | A位置,B位置 | √ | √ | √ | √ |
注意:
1、 本儀器只對(duì)上面所列項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試,用戶(hù)在使用過(guò)程中可能因參數(shù)設(shè)置不同而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果,比如設(shè)置重負(fù)載電壓大于4.5V合格,如果重負(fù)載電壓為4.4V將判為不合格,但該充電器在真機(jī)上可能正常使用。
2、 由于線(xiàn)材分布參數(shù)、阻抗等因素影響,造成數(shù)據(jù)線(xiàn)在真機(jī)使用時(shí)通信速率變慢,或*不能通信,本儀器并沒(méi)有模擬真機(jī)數(shù)據(jù)通信進(jìn)行測(cè)試(估計(jì)也沒(méi)有儀器能做到這一點(diǎn)),所以不能檢出這種問(wèn)題。
3、 本儀器只對(duì)充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗(yàn)證,這是因?yàn)樯秸酒桨副姸?,每種方案協(xié)議、序列號(hào)不盡相同,無(wú)法對(duì)其進(jìn)行*驗(yàn)證,所以本儀器不適合做研發(fā)使用,只適合工廠檢出芯片在焊接過(guò)程中造成的開(kāi)路、短路等物理性的問(wèn)題,芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠時(shí)已校驗(yàn)。
4、 測(cè)試通過(guò)的充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)在使用過(guò)程中還可能因?yàn)槭褂铆h(huán)境條件惡劣而不能正常使用,比如有的芯片在低溫下無(wú)法工作。
綜上所述,本儀器不可*替代真機(jī)測(cè)試,為了提高測(cè)試效率,我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)特性是一致的,建議采用本儀器做基礎(chǔ)測(cè)試,再用真機(jī)抽檢。





























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