LX-619蘋果數(shù)據(jù)線雙面綜合測試儀
產(chǎn)品說明
產(chǎn)品說明
產(chǎn)品名稱:LX-619蘋果數(shù)據(jù)線雙面綜合測試儀 產(chǎn)品型號:LX-619
基于成熟的LX-609升級,不惜成本打造一款測試儀,增加IPS大屏顯示(顏色和視角都很好)、靜態(tài)電流檢測、IC通信腳驅動能力檢測,設計成內(nèi)置12V3A開關電源,USB有隔離IC,定制電木外殼,三芯電源線,背后有固定孔可打螺絲固定于桌面,支持蘋果或MICRO數(shù)據(jù)線、充電線、充電器、充電寶、蘋果單頭、Type-C轉Lightning(普通5V電壓的)的測試。
【簡介】
手機已成為的電子產(chǎn)品,各種外圍產(chǎn)品也幸運而生,本公司立志為廣大外設廠家服務,適時推出相應的檢測設備,為您提高生產(chǎn)效率,為您的品質保駕護航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機充電器檢測儀器,適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
【功能特點】
※ 采用32位ARM高速處理器設計,5.0寸IPS大屏幕顯示,真彩大視角。
※ 支持iPhone6,iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6數(shù)據(jù)線、充電線、單頭測試。
※ 支持iOS6,iOS7,iOS8操作系統(tǒng),支持MFI認證原裝數(shù)據(jù)線和山寨高仿數(shù)據(jù)線、C10B、E75、C48方案等。
※ 雙面測試,插一次即可全部測完,提高效率。
※ 可測出IC通信腳的驅動能力。
※ 靜態(tài)電流檢測0.02mA - 50mA。
※ 負載電流可以設定0-3A,可以設為2.4A實測iPad數(shù)據(jù)線,充分保證線材指標。
※ 準確測出D+、D-電阻,可以檢測出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。
※ 可測出D+、D-漏電阻,并根據(jù)設定范圍判定結果,漏電阻過小會影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。
※ 由于USB座使用率很高,容易損壞,所以USB座采用分體設計,方便更換。
※ 支持Type-C轉Lightning數(shù)據(jù)線的測試(用戶需要自己改裝測試板)。
※ 支持C68A的測試(用戶需要自己改裝測試板),C68A用于蘋果外設如鍵盤、U盤等。
※ 可測試出具體故障點,以便技術人員對線進行檢修。
※ 各種保護措施避免儀器使用過程中受到損壞,防靜電保護,防短路保護,直接短路USB電源也不會損壞。
※ 插入被測產(chǎn)品自動開始測試。
※ LCD中文顯示屏。
※ 同時有聲音和LED指示測試結果。
※ 設置的測試參可掉電保存。
※ 可以連接電腦,有PC軟件,實現(xiàn)更多功能,也可單獨使用。
※ 通過PC軟件對蘋果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。
※ 可以在線升級,使儀器隨時擁的功能,如果儀器有問題,可使用在線升級經(jīng)松解決,不必返廠。
【檢測項目】
檢測項目 | 檢測內(nèi)容 | 蘋果數(shù)據(jù)線 | 蘋果充線 | 蘋果數(shù)據(jù)頭 | 蘋果充電頭 |
空載電壓 | 輸出電壓是否達標 | √ | √ | √ | √ |
靜態(tài)電流 | Vbus線是否有漏電,IC電流是否過大 | √ | √ | √ | √ |
輕負載電壓 | 輸出電壓是否達標 | √ | √ | √ | √ |
重負載電壓 | 輸出電壓是否達標 | √ | √ | √ | √ |
過壓保護 | 當線上電壓過高時,蘋果頭是否會關閉輸出 | √ | √ | √ | √ |
電流 | 線材能過的電流 | √ | √ | | |
D+ | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ | √ | √ |
D- | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ | √ | √ |
屏蔽線 | 懸空、接VCC、接GND、直通 | √ | √ | √ | √ |
認證芯片 | 通信、認證、版本、序列號 | √ | √ | √ | √ |
通信腳低電平 | IC通信腳驅動能力 | √ | √ | √ | √ |
MOS管 | 是否可正??刂?、開路、短路 | √ | √ | √ | √ |
待機空載電壓 | 待機電壓是否正常 | √ | √ | √ | √ |
待機帶載電壓 | 待機帶載電壓是否正常 | √ | √ | √ | √ |
IC方案 | 檢測蘋果頭中所用的芯片方案 | √ | √ | √ | √ |
注意:
1、 本儀器只對上面所列項目進行測試,用戶在使用過程中可能因參數(shù)設置不同而產(chǎn)生不一樣的結果,比如設置重負載電壓大于4.5V合格,如果重負載電壓為4.4V將判為不合格,但該充電器在真機上可能正常使用。
2、 由于線材分布參數(shù)、阻抗等因素影響,造成數(shù)據(jù)線在真機使用時通信速率變慢,或*不能通信,本儀器并沒有模擬真機數(shù)據(jù)通信進行測試(估計也沒有儀器能做到這一點),所以不能檢出這種問題。
3、 本儀器只對充電器/數(shù)據(jù)線內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗證,這是因為山寨芯片方案眾多,每種方案協(xié)議、序列號不盡相同,無法對其進行*驗證,所以本儀器不適合做研發(fā)使用,只適合工廠檢出芯片在焊接過程中造成的開路、短路等物理性的問題,芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠時已校驗。
4、 測試通過的充電器/數(shù)據(jù)線在使用過程中還可能因為使用環(huán)境條件惡劣而不能正常使用,比如有的芯片在低溫下無法工作。
綜上所述,本儀器不可*替代真機測試,為了提高測試效率,我們認為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線特性是一致的,建議采用本儀器做基礎測試,再用真機抽檢。