MATRIX-F不僅可以配置傳統(tǒng)光纖探頭和流通池，還可配置非接觸式測量的發(fā)射探頭

根據(jù)您的需求，MATRIX-F可以配置：

MATRIX-F: 經(jīng)典 FT-NIR 光譜儀，通過光纖連接流通池或浸入式探頭，用于固體或液體分析。

MATRIX-F emission: 特別版 MATRIX-F 光譜儀，通過光纖連接非接觸式發(fā)射探頭，僅用于非接觸式測量。

MATRIX-F duplex：經(jīng)典 MATRIX- F 的擴展型號，可同時連接常規(guī)光纖探頭和非接觸式發(fā)射探頭。

*技術

MATRIX-F 是一款專用 FT-NIR過程光譜儀，經(jīng)得任何考驗。

儀器使用的光譜技術，在緊湊的模塊系統(tǒng)中實現(xiàn)出色的靈敏性和穩(wěn)定性。其創(chuàng)新設計提供始終如一的高質(zhì)量檢測結果，并節(jié)約停機時間，模型直接傳遞，在新應用中并不會降低靈敏度和精度。*支持工業(yè)標準通信協(xié)議，確保輕松集成。

MATRIX-F 可安裝在實驗室作為一立式系統(tǒng)，開發(fā)合適的方法，并可直接轉到您的過程應用分析。使用NEMA 4/IP66（防濺型），MATRIX-F不僅可成為獨立系統(tǒng)，還可放入標準的 19 英寸工業(yè)機柜中。MATRIX-F可裝配6通道光纖擴展模塊。

MATRIX-F ex-proof

MATRIX-F 通過ATEX 防爆認證，并符合以下標準：

II 2G Ex px II T6 Gb

II (1) G [Ex op is T4 Ga] II C

維護

MATRIX-F 的設計確保了可靠性且易于維護。預對準安裝座上的消耗部件是用戶可更換的，無需重新對準光學元件。儀器可以快速維修，以限度地減少對制造過程的干擾。

儀器性能驗證

MATRIX-F 光譜儀內(nèi)部配備有標準材料和濾光片的自動濾光輪，由 OPUS 軟件的 OVP（Optics Validation Program）程序控制，自動按照相關標準對儀器進行性能檢測，并對儀器性能指標進行評估，以確定儀器運行狀態(tài)是否正常、規(guī)范。

連接性

CMET軟件提供工業(yè)標準接口(OPC)可以集成到各種過程控制環(huán)境中，支持各種標準通信協(xié)議，包括4-20mA、Modbus、Profibus DP 和OPC。

技術被如下保護：US 7034944