單點開爾文探針系統(tǒng)KP020對于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測量的速率記錄工作功能,或者單點開爾文探針系統(tǒng)將跟蹤數(shù)天內(nèi)緩慢的工作功能演變。單點開爾文探針系統(tǒng)KP Mini系統(tǒng)提供了相同的功能,但在我們的300 x 300 mm光學(xué)外殼中,占地面積減少了55%。
單點開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
有機和非有機半導(dǎo)體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術(shù)
太陽能電池與有機光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統(tǒng)
相對濕度控制和氮氣環(huán)境室
環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜(APS)
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜(400-1000nm)
表面光電壓(QTH或LED)
用開爾文探針測量功函數(shù)
單點開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
1-3mev的功函數(shù)分辨率
用于升級和附加組件的模塊化系統(tǒng)
經(jīng)濟、進入系統(tǒng)
USB版本即插即用
非零信號檢測系統(tǒng)
單點開爾文探針系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
| KP020 | KP Mini | |
| Tip material/diameter | Standard 2 mm gold tip (other sizes and materials available on request) | |
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |
| Probe translation | 25 mm manual translation | |
| Visualisation | Single-point work function/contact potential difference measurement | |
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |
| Control supplied | PC control with dedicated software for fill digital control of all parameters | |
| Height regulation | Through DC probe adjustments | |
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |
| Faraday/optical enclosure | 450 mm x 450 mm | 300 mm x 300 mm |
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |
| Warranty | Twelve months | |
單點開爾文探針系統(tǒng)
























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