摘要 中圖儀器SJ5700DUAL內(nèi)外螺紋尺寸粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x以“三位一體”集成設(shè)計(jì)與高精度核心技術(shù)，一站式解決多參數(shù)測(cè)量痛點(diǎn)，成為B端企業(yè)提質(zhì)增效的核心質(zhì)控裝備。

摘要 DeFelsko公司是美國的涂層測(cè)厚儀和檢測(cè)儀器制造商，自1965年以來一直提供簡(jiǎn)單、耐用和準(zhǔn)確的測(cè)厚儀。

摘要 德國Mahr輪廓測(cè)量?jī)xMarSurf VD 140具有更短的測(cè)量時(shí)間可靠的測(cè)量站，用于輪廓測(cè)量

摘要 EWIG輪廓形狀測(cè)量?jī)x裝置KCT-6000EH-2000,EH-5500W,MTY-7000,EH-1000,EH-5000,EH-8000,EH-3500,EH-5100,CE-001

摘要 赫爾納-供應(yīng)ttzh輪廓儀分析ttzh輪廓儀主要的產(chǎn)品銷售包括：摩擦計(jì)，2D / 3D表面輪廓儀，濺射靶，碳化鎢工件，球，機(jī)器部件和材料測(cè)試儀等等。ttzh輪廓儀的建議和選擇一直如一，以確保高科技產(chǎn)品的高質(zhì)量和穩(wěn)定性。

摘要 優(yōu)可測(cè)封裝基板3D自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備超快掃描速度：垂直掃描速度，是傳統(tǒng)機(jī)型的5倍； 全自動(dòng)測(cè)量：極簡(jiǎn)操作，輕松在線編程設(shè)定，自動(dòng)測(cè)量； 離線分析：可調(diào)取原始數(shù)據(jù)進(jìn)行二次特定分析； 離線編輯：通過ODB++程序進(jìn)行離線編輯 （選購）； 豐富的測(cè)量功能。

摘要優(yōu)可測(cè)晶圓三維量測(cè)設(shè)備 WPM系列白光干涉、光譜反射、光譜共焦三合一！ 編程測(cè)量：智能陣列、自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)對(duì)焦，自動(dòng)定位Data Feedback數(shù)據(jù)庫管理； 易用性高，自動(dòng)重測(cè)，數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析更多分析功能，報(bào)告一鍵生成； 更多功能：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析等精益制造模塊支持定制開...

摘要 優(yōu)可測(cè)白光干涉儀 AM-7000系列搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，掃描速度400um/秒，3200Hz加SST+GAT算法，可瞬間完成500萬點(diǎn)云采集。

摘要 優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-7000可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量，以“面”的形式獲取表面3D形貌，通過專用軟件對(duì)3D形貌進(jìn)行處理和分析，RMS重復(fù)性可達(dá)0.002nm。

摘要 優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM7000系列是一種高精度測(cè)量?jī)x器，能夠?qū)ξ矬w表面的粗糙度、光潔度、輪廓及微觀三維形貌等進(jìn)行精確測(cè)量，其精度可達(dá)亞納米級(jí)別。該設(shè)備采用高速壓電陶瓷單元驅(qū)動(dòng)，精度高達(dá)0.03nm，掃描速度快，適用于新能源、半導(dǎo)體、精密光學(xué)、航空航天等多個(gè)領(lǐng)域。

摘要自動(dòng)化粗糙度臺(tái)階三維形貌白光干涉儀AM8000系列在實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量同時(shí)，擁有更高效的智能操控，可一鍵自動(dòng)尋找工件、對(duì)焦、調(diào)平，XY軸測(cè)量范圍可達(dá)300×300mm，滿足Mapping多點(diǎn)位測(cè)量、非球面K值測(cè)量等需求。對(duì)比AM-7000系列，AM-8000系列...

摘要白光干涉儀AM-7000系列可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量，以“面”的形式獲取表面3D形貌，通過專用軟件對(duì)3D形貌進(jìn)行處理和分析，RMS重復(fù)性可達(dá)0.002nm。AM-7000搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，掃描速度400um/秒，3200Hz加以SS...

摘要特點(diǎn)：?性能和成本的平衡，具有性價(jià)比?低噪數(shù)字式輪廓傳感器?大量程高精度輪廓測(cè)量、微觀輪廓度測(cè)量測(cè)量原理本儀器測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的...

摘要 WGL光電輪廓儀 光電輪廓儀的應(yīng)用范圍很廣，它主要用于測(cè)量各種精密加工零件表面的微觀三維結(jié)構(gòu)，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等

摘要 產(chǎn)品簡(jiǎn)介輪廓儀測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過X軸、Z軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目

摘要 背景3D表面輪廓是產(chǎn)品功能的關(guān)鍵參數(shù)，會(huì)影響產(chǎn)品的整體性能

摘要 怎樣選紡織材料拉伸儀沒有一臺(tái)紡織儀器可以用來測(cè)量所有的紡織材料的拉伸性能

摘要3D光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x使用Sensofar技術(shù)開發(fā)的neox光學(xué)輪廓儀，其共聚焦部分的主要優(yōu)點(diǎn)是有著*發(fā)光效率的照明硬件和高對(duì)比度算法。這些特點(diǎn)使系統(tǒng)成為測(cè)量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有異種材料樣品的理想設(shè)備。高品質(zhì)干涉光學(xué)系統(tǒng)和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關(guān)...

摘要 二維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x能滿足不同企業(yè)的測(cè)量需求；此外測(cè)量數(shù)據(jù)可導(dǎo)入EXCEL、WORD中或者將測(cè)量圖形輸出至TXT文檔制作CAD設(shè)計(jì)，儀器采用手動(dòng)連續(xù)變倍鏡頭，可以高效的實(shí)現(xiàn)對(duì)較大工件各項(xiàng)復(fù)雜的數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。

摘要 快速輪廓尺寸測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸這種復(fù)雜工件進(jìn)行質(zhì)量控制，可能還需要一個(gè)環(huán)境受控的空間。VICIVISION開發(fā)出了專用于曲軸測(cè)量的專用軟件工具，能夠提供精度的尺寸控制結(jié)果，為曲軸偏心連桿頸的特定尺寸測(cè)量提供了有效的解決方案。

摘要輪廓尺寸形貌測(cè)量?jī)x和質(zhì)量控制系統(tǒng)，提高客戶的生產(chǎn)效率，是車削測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域的關(guān)鍵參與者之一。其客戶群廣泛分布在機(jī)加工中心到汽車行業(yè)，以及醫(yī)療和牙科行業(yè)。MTP閃測(cè)測(cè)量?jī)x，專為平面快速測(cè)量而設(shè)計(jì)的光學(xué)測(cè)量?jī)x。測(cè)量系統(tǒng)易于使用，測(cè)量速度快，一次可測(cè)量多片產(chǎn)品，在保證精準(zhǔn)度與...

摘要材料表面3D輪廓儀具有專業(yè)的測(cè)量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描得到測(cè)量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測(cè)能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測(cè)能力，且不需要使用電子束或雷射，開機(jī)快又安全，維護(hù)成本更低...

摘要明察智新720°連接器AOI檢測(cè)設(shè)備，專為連接器Pin針/探針/端子及組件設(shè)計(jì)。它深度融合了激光干涉測(cè)量、多模態(tài)光學(xué)成像與非接觸精密檢測(cè)技術(shù)，通過多工位精選鏡頭、高分辨率相機(jī)、特別設(shè)計(jì)的光學(xué)光路系統(tǒng)以及檢測(cè)算法，實(shí)現(xiàn)對(duì)外形外觀、尺寸測(cè)量、端面狀態(tài)及內(nèi)部缺陷的...

摘要 日本三豐 FORMTRACER Avant FTA 系列將粗糙度與輪廓形狀測(cè)量合二為一，一臺(tái)設(shè)備替代粗糙度儀與輪廓儀兩套裝備，分辨力可達(dá) 0.0001μm，支持 JIS/ISO/ANSI/VDA 多標(biāo)準(zhǔn)評(píng)價(jià)并可接入 MeasurLink 做 SPC 統(tǒng)計(jì)。

摘要秋毫R系列 晶圓微透鏡玻璃V槽激光干涉3D輪廓儀，專為晶圓、微透鏡、玻璃V槽、精密光學(xué)及材料檢測(cè)設(shè)計(jì)。全場(chǎng)單次成像，亞納米精度，效率遠(yuǎn)超傳統(tǒng)掃描方案。支持粗糙度、臺(tái)階、膜厚、劃傷等全面分析。革新了傳統(tǒng)光學(xué)輪廓儀（如白光干涉儀、共聚焦顯微鏡）依賴逐點(diǎn)或逐幀掃描流程。它采...

摘要 高精度的輪廓測(cè)量，Z方向1m以下的測(cè)量。（變位5mm時(shí)）自動(dòng)要素判定功能（AI功能）無需點(diǎn)、直線、圓等要素即可進(jìn)行自動(dòng)判定。尺寸顯示功能可在測(cè)量圖上顯示參數(shù)、幾何偏差等實(shí)測(cè)值。形狀合成功能合成功能解消了因測(cè)針角度而使分析范圍受限的問題。

摘要 通過演示回放功能可以自動(dòng)進(jìn)行從測(cè)量到采用數(shù)據(jù)粘貼制作檢查成績(jī)書等一系列操作。Z高測(cè)量速度達(dá)20mm/s，Z大移動(dòng)速度達(dá)60mm/s，速度如此之快大大提高了測(cè)量效率。

摘要無需點(diǎn)、直線、圓等要素即可進(jìn)行自動(dòng)判定。尺寸顯示功能可在測(cè)量圖上顯示參數(shù)、幾何偏差等實(shí)測(cè)量值。形狀合成功能合成功能解消了因測(cè)針角度而使分析范圍受限的問題峰值谷值搜尋功能可由測(cè)針軌跡檢測(cè)出工件的Z大點(diǎn)，容易進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)。計(jì)算點(diǎn)的重復(fù)功能具有重復(fù)形狀的工件只需分析1個(gè)圖案便可...

摘要 T8000 SC 測(cè)量?jī)x配置了分辨度*的探測(cè)系統(tǒng)，同時(shí)測(cè)量粗糙度和輪廓，幾何參數(shù)以及粗糙度特征數(shù)據(jù)在一個(gè)流程中評(píng)價(jià)此測(cè)量系統(tǒng)性價(jià)比出色，測(cè)量功能和應(yīng)用范圍*可以和復(fù)雜的試驗(yàn)室測(cè)量系統(tǒng)媲美。

摘要 中圖儀器SJ5700DUAL輪廓儀檢測(cè)無人機(jī)槳葉前后緣輪廓，憑借自適應(yīng)變速測(cè)量+智能恒測(cè)力兩大核心技術(shù)，能穩(wěn)定應(yīng)對(duì)各種曲率突變的復(fù)雜形貌：前緣后緣精準(zhǔn)捕捉不掛針，平緩區(qū)域高效掃掠不降速。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀檢測(cè)復(fù)雜曲面輪廓，智能變速模式，最高可達(dá)20mm/s，根據(jù)表面曲率自動(dòng)調(diào)節(jié)，兼顧精度與效率。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀一體化檢測(cè)粗糙度輪廓度支持CNC固定坐標(biāo)系下的矩陣批量測(cè)量。超大量程：X軸行程可選200mm至400mm（全程光柵），Z軸行程同步匹配，滿足各種大型工件的測(cè)量需求。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀檢測(cè)內(nèi)外輪廓、螺紋參數(shù)，同時(shí)可覆蓋精密軸承、航空航天精密結(jié)構(gòu)件的形貌檢測(cè)，支持根據(jù)工件形態(tài)定制專屬夾具與測(cè)量路徑。

摘要 他們?yōu)槟峁┝可矶ㄖ频妮喞獪y(cè)量設(shè)備，即使在困難的條件下也可以進(jìn)行精確的測(cè)量?？梢杂门c大型笨重組件相同的方法來測(cè)量微組件的輪廓，粗糙度或圓度。

摘要 用于同時(shí)測(cè)量尺寸、形狀和表面粗糙度，曲率、傾角、粗糙度和波紋度等。Form Talysurf Intra只需一遍，即可檢測(cè)和評(píng)估所有元素。該儀器擁有堅(jiān)固耐用的外殼。實(shí)用中可做到長(zhǎng)時(shí)間無需保養(yǎng)維護(hù)亦可保持精準(zhǔn)。其

摘要光電輪廓儀的應(yīng)用范圍很廣，它主要用于測(cè)量各種精密加工零件表面的微觀三維結(jié)構(gòu)，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學(xué)零件表面的粗糙度；標(biāo)尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結(jié)構(gòu)；鍍層厚度和鍍層邊界處的結(jié)構(gòu)形貌；磁（光）盤、磁頭表面結(jié)構(gòu)測(cè)...

摘要SJ5718小型輪廓測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品型號(hào)：SJ5718 產(chǎn)品名稱：小型輪廓測(cè)量?jī)x 測(cè)量范圍：X軸（0-100）mm，Z0軸30mm，Z軸0-300mm X軸示值誤差：（0.8+0.02L）m，其中L為水平測(cè)量長(zhǎng)度，單位：mm Z0軸示值誤差：（1+0.04H）m，其中H為...

摘要SJ5700-200輪廓測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品型號(hào)：SJ5700-200 產(chǎn)品名稱：SJ5700輪廓測(cè)量?jī)x 測(cè)量范圍：X軸（0-200）mm，Z1軸25mm，Z軸0-450mm X軸示值誤差：（0.8+2L/100）m，其中L為水平測(cè)量長(zhǎng)度，單位：mm Z1軸示值誤差：（1.6...

摘要SJ5760輪廓測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品型號(hào)：SJ5760 產(chǎn)品名稱：SJ5760輪廓測(cè)量?jī)x 測(cè)量范圍：0～200mm，Z軸0-450mm，Z0軸25mm X軸示值誤差：(1.2+2L/100)m，其中L為水平測(cè)量長(zhǎng)度，單位：mm Z0軸示值誤差：(2+|2H|/40)m，其中H...

摘要SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀 產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1 產(chǎn)品名稱：光學(xué)3D表面輪廓儀 影像系統(tǒng)：10241024（20482048，25921944可選） 光學(xué)Zoom：1，（0.75，0.5可選） 干涉物鏡：2.5，5，10，20，50 XY...

摘要 JQL04型單纖維輪廓儀主要特點(diǎn)：1、可用來測(cè)量單纖維表面的形態(tài)和力學(xué)拉伸性能。2、通過數(shù)字掃描系統(tǒng)獲得纖維材料的表面輪廓。3、掃描時(shí)的移動(dòng)速度可調(diào)，拉伸速度和位移可控。

摘要 泰勒經(jīng)濟(jì)型粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和計(jì)量室使用，采用PDA控制處理器，為觸摸式屏幕。

摘要 泰勒便攜式粗糙度輪廓儀Surtronic 25可設(shè)定多個(gè)測(cè)量參數(shù)，連接熱敏打印機(jī)，還能與計(jì)算機(jī)連接運(yùn)行Talyprofile軟件進(jìn)行進(jìn)一步分析。

摘要 泰勒Form Talysurf PGI表面粗糙度輪廓儀具有高精度測(cè)量系統(tǒng)，的2D或3D多種軟件，適合一般應(yīng)用，軸承或光學(xué)非球面測(cè)量的粗糙度輪廓儀。

摘要 三豐輪廓儀CV-1000N2/2000M4是三豐數(shù)字檢出型輪廓形狀測(cè)定機(jī)。