熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。
近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動機和燃燒系統(tǒng)余熱并轉換成電能可以節(jié)省數十億美元。
為了應對一系列挑戰(zhàn)性的應用，Linseis已經開發(fā)出LSR-3 Seebeck系數/電阻率測試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性。

特點

LSR—3測試系統(tǒng)可以同時測量塞貝克系數和電阻（電阻率）

可以測量圓柱形或棱柱形的樣品，長度6 — 23mm

利用的測量適配器可以測量線狀和薄片狀樣品

通過三種可更換的爐體，測量溫度范圍可以覆蓋-100到1500 ℃

樣品架的設計保證了的測量重復性

32位軟件可以通過程序實現自動測量

測量數據導出

測量原理:

圓柱形或棱柱形的試樣垂直放置的兩個電極之間，下部電極塊包含一個加熱器。整個測量裝置放置在爐體中。將整個爐體和樣品加熱到特定的溫度，在此溫度下利用電極塊中的二級加熱器建立一組溫度梯度，然后兩個接觸熱電偶測量溫度梯度T1和T2。的熱電偶接觸機制保證了以的溫度精度測量每個熱電偶上每條導線電動勢dE。

四端法測量電阻，樣品兩端通入恒定電流（I），測量樣品電壓的變化，可以測量出電阻系數。

所有的LINSEIS熱分析設備都是用計算機控制的，各個軟件模塊僅在Microsoft?Windows?操作系統(tǒng)上運行。完整的軟件包括3個模塊：溫度控制，數據采集和數據分析。與其他熱分析系統(tǒng)一樣，該用于LSR的32位Linseis軟件可以實現所有測量準備、實施和評估的基本功能。經過專家和應用工程師的努力，LINSEIS開發(fā)出這款容易操作且實用的軟件。

特點

• 文本編輯

• 重復測量可少的輸入參數

• 實時測量分析

• 測量曲線比較：多達32條曲線

• 曲線扣除

• 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

• 曲線放大縮小

• 一階/二階求導

• 多重峰分析

• 樣品溫度多點校正

• 焓變多點校正

• 熱流Cp測量

• 評估結果保存及導出

• ASCII數據導入與導出

• 數據生成到MS Excel

• 信號控制測量測序

    附    件   

Linseis LSR-3附件:

四種不同爐體:

-100°C -- 500°C

RT -- 800°C

RT -- 1100°C

RT -- 1500°C

測不同幾何形狀的樣品

圓柱形或矩形樣品

同一樣品可直接用于Linseis LSR-3和Linseis LaserFlash LFA1000或XenonFlash XFA300/600上測量，保證樣品一致性，避免因制樣的形狀帶來的測量不確定性。

材料

半導體、金屬與合金

工業(yè)領域

汽車/航空/航天，開發(fā)研究和學術研究，半導體行業(yè)/傳感器/熱電發(fā)電機/制冷設備

應用實例:

典型的含碲化合物熱電材料在室溫至200 ℃溫度范圍進行測試，電阻率和Seebeck系數在該溫度區(qū)間的曲線見下圖。