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公司介紹主營產(chǎn)品

廣州文明機電有限公司,簡稱GZ CVL（GZ Civil Mechatronic)成立于2006年，是業(yè)內(nèi)的企業(yè)，由留學歸國的北京大學博士后和華南師范大學MBA班學生共同創(chuàng)辦，擁有數(shù)十項，為廣東省科技型中小企業(yè)，屬國家與專精特新培育企業(yè)。十幾年來，我們一直專注的領(lǐng)域包括科學儀器、汽車測試儀器、非標自動化設(shè)備、測試測量與控制、嵌入式開發(fā)工具和軟件工程。“GZ CVL”始終堅持品牌化經(jīng)營戰(zhàn)略，以服務(wù)為基礎(chǔ)，以質(zhì)量求生存，以管理求發(fā)展，秉承一切以客戶為中心的服務(wù)理念。憑借多年來客戶的信任和支持，“GZ CVL”積累了豐富的營銷及安裝經(jīng)驗，是一家擁有的管理，*的技術(shù)、高水平的營銷和*的售后服務(wù)為一體化的專業(yè)化測試及分析儀器設(shè)備公司。

工業(yè)推動中國，創(chuàng)新感動世界，GZ CVL以“創(chuàng)品牌、建百年企業(yè)”為奮斗目標，積極促進“中國制造”向“中國創(chuàng)造”的轉(zhuǎn)變。公司以“科技開創(chuàng)未來”為宗旨，以專業(yè)技術(shù)為核心，以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品為先導(dǎo)，為我國測試及分析技術(shù)發(fā)展做貢獻，努力實現(xiàn)中國工業(yè)騰飛。

廣州文明依靠國內(nèi)外測試和分析儀器設(shè)備領(lǐng)域多家國際化大公司以及中山大學、華南理工大學的*實力，代理專業(yè)測試分析儀器設(shè)備，開展相關(guān)技術(shù)培訓(xùn)，自主研發(fā)配套軟硬件，并提供有效的系統(tǒng)解決方案。公司具有持續(xù)的自主創(chuàng)新能力和科研成果轉(zhuǎn)讓或者產(chǎn)業(yè)化的實力，核心產(chǎn)品包含：新能源汽車測試臺架，空燃比分析儀，尾氣分析儀，掃描電鏡，熱分析儀，光譜分析儀，質(zhì)譜分析儀等。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	進口	加工定制	否

JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) 隨著*材料構(gòu)造的微細化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。

JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) 隨著*材料構(gòu)造的微細化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kV低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與大能獲得300nA探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。FIB鏡筒利用大探針電流為90nA的高電流密度的Ga離子束，對樣品進行高速加工。利用FIB高速截面加工后的高分辨SEM觀察和使用EDS(能譜儀)及EBSD(晶體取向分析系統(tǒng))等各種分析裝置，可以進行高速分析。此外還標配了三維分析功能，能以固定的間隔自動進行截面加工并同時獲取截面的SEM圖像。

高分辨率SEM觀察
通過采用電磁場疊加的圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器，在1kV低加速電壓下實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率。
高速分析
浸沒式肖特基電子槍與佳光闌角控制鏡組合，大探針電流分析時也能保持高分辨率。
高速加工
FIB鏡筒利用高電流密度的Ga離子束,對樣品進行高速加工。
加強了檢測系統(tǒng)
利用新開發(fā)的同步檢測系統(tǒng)（包括in-lens檢測器），最多能實時觀察4個檢測器的圖像。
擴展性
可支持EDS、EBSD、冷凍傳輸系統(tǒng)、冷凍樣品臺、空氣隔離傳輸系統(tǒng)（Air-isolation transfer vessel）等豐富的選配附件。
三維觀察、三維分析
高分辨率SEM和各種分析單元（選配項）組合，能對圖像和分析數(shù)據(jù)進行三維觀察。
樣品臺聯(lián)動功能
利用樣品提取系統(tǒng)（Sample Pick-up System，選配項）和樣品臺聯(lián)動功能，能簡單地提取TEM樣品。
圖像疊加（picture overlay ）系統(tǒng)
通過和附帶光學顯微鏡的樣品提取系統(tǒng)組合，將光鏡圖像疊加在FIB圖像上，能容易地定出FIB的加工位置。

SEM
加速電壓	0.1 ～ 30.0 kV
分辨率 (WD時)	1.2 nm (15 kV, GB模式) 1.6 nm (1 kV, GB模式)
倍率	x20 ～ 1,000,000 （采用LDF模式）
探針電流	1 pA ～ 300 nA
樣品臺	計算機控制6軸測角樣品臺 X: 50 mm, Y: 50mm, Z: 1.5 ～ 40 mm, R: 360°, T: -5 ～ 70°, FZ: -3.0 ～ +3.0 mm
FIB
加速電壓	1 ～ 30 kV
圖像分辨率	4.0 nm (30kV)
倍率	x50 ～ 1,000,000 (x50 ～ 90在加速電壓為15kV以下時可以)
探針電流	1 pA ～ 90 nA, 13 檔
加工形狀	矩形、線、點、圓、位圖

關(guān)鍵詞：光學顯微鏡

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