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SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀，也被稱為SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀，具有超高的相位采樣分辨率（160 x 128）和高感光靈敏度，可以準確的測量0.9-1.7 μm的波前數據并且可適用于低功率紅外光源測試。

SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀產品詳情

SID4 SWIR HR波前分析儀，0.9-1.7 μm超高采樣分辨率

SID4 SWIR HR波前傳感器的規(guī)格參數：

型號	SID4 SWIR HR
波長范圍	0.9-1.7 μm
靶面尺寸	9.60 mm x 7.68 mm
采樣分辨率	60 μm
采樣分辨率	160 x 128
相位分辨率	<2 nm RMS
精度	15 nm RMS
采樣速率	30 fps
實時處理速度（使用配套的SID4軟件情況下）	7 fps（全分辨率情況下）
接口類型	Giga Ethernet（以太網）
尺寸	100 x 55 x 63 mm³
重量	~500 g

法國Phasics提供的SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀集成了InGaAs探測器和Phasics的技術——四波橫向剪切設計而成的。由于SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的超高采樣分辨率（160 x 128 phase pixels）和高靈敏度，可以精確的測量900 nm到1.7 μm的波前數據。短波紅外波前傳感器SID4 SWIR HR是一種創(chuàng)新的設計方案，它的鏡頭可以應用于光通信，儀器檢測，軍事或夜視監(jiān)測等領域。

SID4 SWIR HR超高采樣分辨率波前傳感器的主要特點：

- 覆蓋0.9-1.7 μm短波紅外波段

- 160 x 128的高相位采樣分辨率

- 高感光靈敏度，可適用于低功率紅外光源測試

SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的主要應用：

- 激光，自適應光學

- 光學元件及光學系統(tǒng)計量

- 等離子體檢測

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