EL-Lab拓展介紹

1、定義

多通道電致器件壽命測(cè)試是在統(tǒng)一的環(huán)境條件下，通過(guò)多個(gè)獨(dú)立的電學(xué)驅(qū)動(dòng)與光學(xué) / 電學(xué)監(jiān)測(cè)通道，對(duì)批量電致器件（如 LED、OLED、鈣鈦礦 LED）同時(shí)施加長(zhǎng)期電應(yīng)力（如恒定電流 / 電壓），動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)其關(guān)鍵性能參數(shù)（如亮度、效率、光譜）的衰減過(guò)程，最終量化器件壽命（如亮度衰減至初始值 50% 的時(shí)間 T50）及失效規(guī)律的測(cè)試方法。其核心價(jià)值在于 “批量并行測(cè)試” 與 “數(shù)據(jù)一致性對(duì)比”，大幅提升測(cè)試效率并降低個(gè)體差異對(duì)壽命評(píng)估的影響。

電致發(fā)光特性測(cè)試是通過(guò)電場(chǎng)激發(fā)材料產(chǎn)生光輻射的定量分析技術(shù)，主要用于評(píng)估光電材料的性能與可靠性。其核心是測(cè)量和分析材料在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生的發(fā)光特性參數(shù)，包括發(fā)光效率、光譜特性、穩(wěn)定性及缺陷分析等關(guān)鍵指標(biāo)。

2、多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)在器件研究的應(yīng)用

（1）、電致發(fā)光器件的全面性能評(píng)估

系統(tǒng)可對(duì)各類電致發(fā)光器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)量，包括：

發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率(EQE)、電流效率、功率效率等

電學(xué)參數(shù)：電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等

輻射度學(xué)參數(shù)：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等

光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等

色度學(xué)參數(shù)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、顯色指數(shù)(CRI)等

（2）、電致發(fā)光器件壽命測(cè)試與評(píng)估

系統(tǒng)是評(píng)估OLED、QLED、PeLED等器件壽命的關(guān)鍵工具：

可同時(shí)對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)下的全面參數(shù)變化

為解決"影響OLED壽命的因素是多方面的、復(fù)雜的，往往不能準(zhǔn)確地把OLED老化歸咎于某一種老化機(jī)制，而是多種老化機(jī)制共同作用的結(jié)果"提供數(shù)據(jù)支持

通過(guò)全面參數(shù)監(jiān)測(cè)，幫助研究者同時(shí)解決多種老化機(jī)制對(duì)器件壽命的影響

（3）、電致發(fā)光器件研發(fā)與優(yōu)化

發(fā)光層厚度影響研究：如知識(shí)庫(kù)[3]中提到的"利用原子層沉積法在Y2O3包層中增強(qiáng)非晶態(tài)摻铞Al2O3納米醇酸酯薄膜的電致發(fā)光"研究

新材料開(kāi)發(fā)：用于量子點(diǎn)發(fā)光二極管(QLED)、有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)、鈣鈦礦發(fā)光二極管(PeLED)等新型電致發(fā)光材料的性能測(cè)試

器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化：通過(guò)測(cè)量不同結(jié)構(gòu)器件的發(fā)光效率、穩(wěn)定性等參數(shù)，指導(dǎo)器件設(shè)計(jì)優(yōu)化

（4）、變溫條件下的電致發(fā)光特性測(cè)量

支持寬溫度范圍的變溫測(cè)試(變溫測(cè)試通道為選配配置)

可獲取器件在不同溫度條件下的性能數(shù)據(jù)，評(píng)估溫度對(duì)器件性能的影響

3、產(chǎn)品主要測(cè)試功能特點(diǎn)

（1）、核心測(cè)試方法

多通道并行測(cè)試：同時(shí)對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行電致發(fā)光特性測(cè)量，顯著提高測(cè)試效率

IVL測(cè)試：同時(shí)測(cè)量電流-電壓-亮度特性，獲取器件的電學(xué)和光學(xué)性能

老化測(cè)試：對(duì)器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作測(cè)試，記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)的參數(shù)變化

變溫測(cè)試：在寬溫度范圍內(nèi)（-50℃~+150℃）測(cè)量器件性能，評(píng)估溫度對(duì)器件的影響

手套箱內(nèi)測(cè)試：在惰性氣體環(huán)境（如N?或Ar）中進(jìn)行測(cè)試，防止器件受氧氣和水分影響

（2）、測(cè)量技術(shù)

提供準(zhǔn)確的外量子效率(EQE)等發(fā)光效率參數(shù)

光譜分析：通過(guò)光譜測(cè)量模塊獲取器件的光譜功率分布和主波長(zhǎng)

輻射度學(xué)測(cè)量：精確測(cè)量輻射通量、光視效能等參數(shù)

色度學(xué)測(cè)量：精確測(cè)定CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)等色度參數(shù)

（3）、多通道并行測(cè)試能力

靈活配置：總計(jì)6個(gè)測(cè)試通道，包括5個(gè)IVL測(cè)試通道、1個(gè)光譜測(cè)試通道和5個(gè)老化（穩(wěn)定性）測(cè)試通道

定制化：用戶可根據(jù)具體需求定制不同數(shù)量和功能的通道組合

批量效率：支持同時(shí)測(cè)試多個(gè)器件，大幅提升測(cè)試效率，縮短研發(fā)周期

（4）、全面的測(cè)量參數(shù)

系統(tǒng)可精確測(cè)量以下參數(shù)：

發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率(EQE)、電流效率、功率效率等

電學(xué)參數(shù)：電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等

輻射度學(xué)參數(shù)：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等

光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等

色度學(xué)參數(shù)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、MK-1、顯色指數(shù)(CRI)等

器件老化參數(shù)：記錄不同老化時(shí)間點(diǎn)下的上述所有參數(shù)變化