中圖儀器CEM3000桌面掃描電鏡精準(zhǔn)微觀分析支撐質(zhì)檢工作！憑借經(jīng)反復(fù)打磨的電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，打造出一系列硬核技術(shù)參數(shù)，設(shè)備可滿足納米級(jí)高精度觀測(cè)、大尺寸樣品分析、多類型材料檢測(cè)等專業(yè)需求，是科研與工業(yè)檢測(cè)的可靠選擇。

核心技術(shù)參數(shù)與性能亮點(diǎn)

1.核心成像參數(shù)

·電子槍：鎢燈絲，SE模式優(yōu)于4nm分辨率、BSE模式優(yōu)于8nm分辨率（@20kV），加速電壓1~20kV，支持1kV超低電壓低損成像；

·放大倍數(shù)：40~300,000×，可選配大圖拼接，滿足從低倍大視野到高倍納米級(jí)的觀測(cè)需求；

·探測(cè)器：標(biāo)配二次電子探頭+四象限高分辨背散射電子探頭，選配能譜儀（布魯克/牛津儀器），實(shí)現(xiàn)形貌觀測(cè)+元素成分分析雙重功能。

2.高效真空系統(tǒng)

·真空度：高真空優(yōu)于9×10-3Pa，低真空5~100Pa（選配），適配導(dǎo)電/不導(dǎo)電等多類型樣品；

·抽氣效率：高真空<180s、低真空<120s，換樣倉(cāng)破真空<30s、空倉(cāng)抽真空<100s，大幅減少等待時(shí)間，提升檢測(cè)效率。

3.大尺寸樣品臺(tái)與成像

·樣品臺(tái)：X/Y/T自動(dòng)軸+R/Z手動(dòng)軸，X/Y行程各50mm，樣品尺寸70mm×70mm（水平）/45mm（高度），*立式電鏡，可容納大尺寸/批量樣品；

·成像輸出：640×480至10240×7680多分辨率可選，超低掃描畸變，低倍大視野成像邊緣清晰，動(dòng)態(tài)傾斜聚焦適配復(fù)雜樣品。

4.便捷操作與耐用性

·自動(dòng)化功能：標(biāo)配自動(dòng)合軸、聚焦、消像散、一鍵圖像增強(qiáng)，集成式操縱手柄快速調(diào)節(jié)觀測(cè)位置；

·物理參數(shù)：400x670x730mm桌面級(jí)尺寸，120kg凈重，200-240VAC常規(guī)電源，復(fù)合抗振防磁設(shè)計(jì)，適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室常規(guī)環(huán)境。

CEM3000桌面掃描電鏡精準(zhǔn)微觀分析支撐質(zhì)檢工作！設(shè)備兼顧桌面級(jí)緊湊設(shè)計(jì)與大樣品倉(cāng)優(yōu)勢(shì)，實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)車間、質(zhì)檢中心等場(chǎng)景均可靈活部署，適配各行業(yè)的微觀分析剛需。若您有專屬行業(yè)的觀測(cè)需求，可隨時(shí)咨詢定制解決方案。

注：產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級(jí)實(shí)時(shí)更新，具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，詳情可咨詢客服獲取完整資料。