繞線元件脈沖測試器 chroma 19301A
Chroma 19301為繞線元件脈沖測試器，結(jié)合了 高低感量測技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測試滿足絕大部份功率電感測試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動 偵測(FLUTTER)及波形二階微分偵測(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進(jìn)行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是 造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測試有其必要性。

Chroma 19301為針對繞線元件測試需求所設(shè)計(jì)， 利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與待測 線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線 圈自體之絕緣不良，提供功率電感元件進(jìn)行繞線 品質(zhì)及磁芯之耐壓測試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19301應(yīng)用于低感量繞線元件測試，最小 感量可達(dá)0.1uH，針對低感量測試特性提供四線 式測量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補(bǔ)償功 能，可避免因待測物感量變化大或配線等效電感 而造成測試電壓誤差大，為低感量繞線元件脈沖 測試?yán)鳌?/p>

Chroma 19301于自動化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速 測量速度有效縮短測試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補(bǔ)償功能改善了自動化機(jī)臺配線等效電感之影 響。

全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫面擷取功能，透過前面板USB儲存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位 使用進(jìn)行樣品分析比對，大幅提升操作便利性。

量測技術(shù)

脈沖測試概論與原理

所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，以一脈沖電壓加于并聯(lián)線圈的振蕩電容(Cs)上，使 并聯(lián)電容與線圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來了解線圈內(nèi)部狀態(tài)，包含線圈自體之絕緣、線圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài)(如圖1: 測試等效電路圖 ) ，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例 如：繞線層間短路、電極焊接不良、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣不良等。

波形判定模式
波形面積比較 (AREA SIZE)
將樣本和待測物彼此之面積大小進(jìn)行比對，面 積大小與待測物線圈絕緣有關(guān)，線圈絕緣不良 造成波形快速衰減。

波形面積差比較 (DIFFERENTIAL AREA)
對任意之區(qū)域求出樣本和待測物差異部分 之面積與判定條件進(jìn)行比對，與待測物感量變 化有關(guān)聯(lián)，感量差異造成后段線圈自體震蕩頻 率改變使波形面積差異。

波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION)
以微分演算求出波形上產(chǎn)生之總放電量在與樣本之波形總放電量做比對。
放電量二次微分偵測 (LAPLACIAN VALUE)
以二階微分演算后，與樣本之讀值做比對，可 有效檢測出因電氣放電或電極焊接不良引起波 形快速變化現(xiàn)象。

低感量脈沖測試技術(shù)

Chroma 19301 為針對低感量繞線元件待測物而開發(fā)，最小感量可從0.1uH~100uH產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測試，低感量待測物有別于一般感量產(chǎn)品測試應(yīng)用， 因待測物感量較低相對于容易受到測試回路上配線等效電感之影響，使得測試電壓產(chǎn)生分壓于配線上使待測物端電壓會遠(yuǎn)低于量測時(shí)的設(shè)定電壓，另外如 低感量Power choke其工作電壓應(yīng)用于較低電壓，因此其脈沖測試電壓通常會低于一般感量產(chǎn)品。

低電壓檔位
低感量產(chǎn)品如智慧型手機(jī)中的Power choke，其工作電壓較低且體積較小，可測試電壓相對較低，因此用于量測低感量之脈沖測試設(shè)備需具備較低電壓檔 位來進(jìn)行波形分析，Chroma 19301具有六個(gè)電壓檔位分別為32V,64V,128V,256V,512V及1024V與0.25V電壓辨識度，最小測試電壓可從10V開始進(jìn)行測 試，可有效提高波形判定辨識能力。

四端測量
一般兩線式層間短路測試設(shè)備因電壓偵測在電流回圈內(nèi)部，在 低感量待測物，測得電壓與實(shí)際待測物上有很大差距，Chroma 19301采用雙同軸線四線偵測方式，大幅提高電壓精度，達(dá)到正確 測試效果。

崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
Chroma 19301 具有崩潰電壓測試功能，設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓 及電壓爬升率，利用電壓爬升過程偵測波形面積比(Area)與二階微 分偵測(Laplacian)判定是否超過設(shè)定值，測試出線圈可承受電壓強(qiáng) 度，藉由這些功能，研究人員可以對產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究，針對 線圈較弱的地方做改善。

接觸檢查功能 ( )
Chroma 19301 于測試前會進(jìn)行接觸檢查，避免因?yàn)榻佑|不良或開 路使得內(nèi)部以電壓輸出造成治具端探針接線因高壓而跳火， 導(dǎo)致待測物受到損壞。并可延長探針使用壽命。

電壓補(bǔ)償功能 ( )
一般如變壓器等感量較大的線圈進(jìn)行測試時(shí) ，配線等效感量相對較小， 但在低感量測試時(shí)(如0.2uH)， 配線等效感量大小會影響待測物上之實(shí)際電壓，尤 其在自動化測試應(yīng)用時(shí)， 降低配線影響是一重要設(shè)計(jì)考量。過高的配線阻抗會使低感量測試時(shí)電壓分壓在測線上， 導(dǎo)致待測物上的電壓低于設(shè)定值而無 法有效檢出不良品。且電感產(chǎn)品感量規(guī)格可達(dá)正負(fù)30%，因此于低感量測試應(yīng)用時(shí)，會因待測物感量變化而造成實(shí)際端點(diǎn)上電壓差異更加明顯，導(dǎo)致 波形面積判定失效或測試電壓未達(dá)要求之電壓。Chroma 19301 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能，改善上述問題及降低因感量差異造成于端點(diǎn)上實(shí)際電壓的差 異，進(jìn)而降低誤判的可能性。

高低感量產(chǎn)品測試
Chroma 19301 除了低感量產(chǎn)品測試技術(shù)外，也同時(shí)涵蓋到較高感量產(chǎn)品測試應(yīng)用，可從0.1uH ~ 100uH 。于測試初始進(jìn)行樣品取樣時(shí)，透過內(nèi)部電感量偵 測功能得知待測物感量大小，自動切換到合適檔位進(jìn)行測試(切換點(diǎn)可設(shè)定)，使待測物在適當(dāng)波形下進(jìn)行比對測量，對使用者操作來說是相當(dāng)便利的一項(xiàng) 功能。單一臺層間短路測試器即結(jié)合了高低感量產(chǎn)品測試應(yīng)用，客戶于生產(chǎn)線上進(jìn)行產(chǎn)品更換時(shí)可省略設(shè)備更換時(shí)間，不僅縮短了產(chǎn)品換線工時(shí)同時(shí)也降 低工廠設(shè)備負(fù)擔(dān)，有助于工廠端生產(chǎn)管理也替客戶節(jié)省設(shè)備資本支出之成本。

產(chǎn)品應(yīng)用

高速自動化測試應(yīng)用
低感量電感應(yīng)用于智慧型手機(jī)或平板電腦等3C產(chǎn)品，產(chǎn)品外觀尺寸趨向輕薄短小設(shè)計(jì)，電感于生產(chǎn)上也采用全自動化 測包機(jī)進(jìn)行生產(chǎn)，其自動化機(jī)臺產(chǎn)速相當(dāng)高，因此產(chǎn)品生產(chǎn)應(yīng)用需搭配高速測量設(shè)備才能滿足生產(chǎn)條件。為了滿足高 速自動化測試應(yīng)用，Chroma 19301具有超高速測量功能及雙同軸線四線測量方式降低配線長度之影響，可直接搭配層 測自動化機(jī)上應(yīng)用，為客戶自動化生產(chǎn)帶來更大效益。

SMD POWER CHOKE 測試治具
低感量Power Choke產(chǎn)品體積小，為了使層間短路測試操作上能更加便利，Chroma 開發(fā)專用之SMD Power Choke四端 測試治具() ，可搭配19301之電感差異自動電壓補(bǔ)償功能特點(diǎn)應(yīng)用，為產(chǎn)品開發(fā)或品保人員帶來更為方便進(jìn)行測試 提高測試效率。