WaveMaster^® Compact Reflex - 夏克·哈特曼傳感器對單透鏡表面形貌的測量

WaveMaster® Compact Reflex使用其內(nèi)置反射式夏克·哈特曼傳感器，簡便、靈活地測量樣品的表面輪廓。

WaveMaster® Compact Reflef

主要特點

*使用夏克·哈特曼傳感器快速測量表面輪廓；

*快速，簡單的更改裝置實現(xiàn)在不同測量范圍間的切換；

*高測量速度可以實現(xiàn)高樣品的通量；

*高精度四軸校準樣品架，用于亞微米位置的調(diào)整；

*當連續(xù)測量樣品時，只需對樣品進行微小的調(diào)節(jié)即可；

*自動聚焦；

*波前傳感器和望遠鏡在出瞳中自動定位；

*與主透鏡或設計文件的波前數(shù)據(jù)實時比較；

*具有不同數(shù)值的點光源（0.95）；

*防振式結構，避免振動影響；

*功能完備的軟件；

應用

WaveMaster® Compact Reflex的應用如下： *檢測球面、非球面、平面元件的表面面型； *測量半徑；

用夏克·哈特曼傳感器測量曲面和半徑

WaveMaster® 軟件結構清晰、易于使用，并包含很多功能，可用WaveMaster®儀器測量和分析樣品。

該軟件與夏克·哈特曼傳感器進行通訊并實時分析測量的鏡片表面。此外，它可以控制WaveMaster®儀器。

該軟件的優(yōu)點

*菜單驅動的操作指導；

*簡單直觀的表面輪廓測量和分析；

*軟件包：數(shù)據(jù)收集、數(shù)據(jù)計算、校準并顯示數(shù)據(jù)、實時分析；

*通過多重參數(shù)化表示表面面型；

*非球面方程；

*Zernike多項式；

*圓錐方程；

*球面方程；

*自由曲面；

*加載參考表面數(shù)據(jù)并在測量過程中進行實時比較；

有關軟件的更多詳情

*基本功能；

*實時測量和分析波前；

*顯示；

*3D波陣面的2D - fringe和-Phase；

*PV和RMS；

*強度；

*傾斜度；

*相機圖像；

*和相對的測量模式；

*與主鏡頭或設計數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)實時比較；

*波前和相機圖像平均；

*測量和分析區(qū)域的可調(diào)；

*可存儲的配置文件；

*證書；

*提供多個分析模塊；

*INSTRUMENT控制；

*自動對焦功能；

*自動尋找出瞳平面；

*自動樣品定位（可選）；

*使用預先設定的配置文件；

*REFLEX模塊；

*實時表面形貌分析；

*實時表面貼合；

*與參考數(shù)據(jù)進行比較；

*將參考數(shù)據(jù)輸入為系數(shù)；

*通過/未通過標準；

*圖形和數(shù)字顯示，擬合結果并與設計數(shù)據(jù)進行比較；

*局部偏離適合的球體；

**取決于曲率半徑和照明鏡頭；

升級和配件

波前測量儀的特點是靈活的設計，可以使儀器適應特定的應用需求。借助以下附件和升級，WaveMaster系列的功能得到了擴展。

波前傳感器

當需要更高的動態(tài)范圍或精度時，可以更換WaveMaster儀器的波前傳感器，作為升級，所有可用的WaveMaster設備都可以實施到WaveMasterSensor儀器中，可根據(jù)要求提供更多的波前傳感器。

照明

具有不同波長和數(shù)值孔徑的光源可供選擇，數(shù)值孔徑之間的切換由于運動學安裝而被簡化。

望遠鏡

為了更大限度地利用傳感器的動態(tài)范圍，從而提供橫向分辨率。可以使用一套望遠鏡。

根據(jù)樣品直徑和波前傳感器的尺寸，必須選擇放大倍率。運動支架可以方便的更換望遠鏡。