新一代MK8000系列高靈敏度磁光克爾系統(tǒng)兼具磁光克爾效應測量和磁疇觀測兩種功能,相比于其它磁性測量系統(tǒng),具有可測試樣品單點的微觀磁性,方便測試磁性材料的各向異性,且可觀測到磁性材料的動態(tài)磁疇等優(yōu)勢。

MK8000系列可直接獲得縱向、橫向和極向克爾的旋轉角或者橢偏率的磁滯回線，也可獲得矯頑力和飽和磁場等磁學性質。利用TTL調制一款低噪音的激光光源，用高靈敏度的光電傳感管接收光強信號，并采用鎖相放大器采集鎖頻信號，使得MK8000系列擁有低噪音、高分辨率和高穩(wěn)定性。

MK8000系列還能利用磁光克爾效應測量磁疇結構。偏振光經過檢偏器后光斑的強度在光斑區(qū)域內分布不同，從而得到磁疇結構，由CCD相機記錄該偏光的變化來反映磁疇。MK8000系列磁光克爾系統(tǒng)是研究磁性薄膜、磁性納米結構和自旋電子學的一個理想工具。

基本功能

單點loop：縱向、橫向和極向克爾效應測試；

區(qū)域mapping：上下左右精細移動樣品，可測試樣品表面不同點的磁光克爾效應；

三百六十度旋轉樣品或磁場，可判斷材料磁化難易軸并測試各向異性；

集成高速CCD和顯微系統(tǒng)，可觀查材料表面形貌，加入檢偏器后還能檢測出偏振態(tài)隨著磁場變化而引起的光斑強度的分布不同，從而得到磁疇。

主要特點

TTL調制半導體激光器，光電二極管接收光強，鎖相放大器采集信號，使系統(tǒng)擁有的靈敏度；

所有光學器件均高度集成化，用戶只需安裝樣品并微調樣品桿，即可得到克爾信號；

集成克爾效應測量和磁疇觀測顯微鏡觀測，顯微分辨率為6um；

可以真空原位測量，并擁有多種磁場和低溫選件。

技術參數(shù)

克爾角分辨率：小于0.001度；

橢偏率分辨率：小于0.1%；

最小光斑：10微米；

磁場：2.2T（選用EM7電磁鐵）；

旋轉角度步進0.1度，上下左右位移步進10微米；

噪音：小于1%。