高效太陽能組件IV測(cè)試儀

ZG515

u A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)

u 300~1200nm全光譜

u 長脈沖：10-100ms（可調(diào)）

u 智能掃描法：可測(cè)各類高效電池片

u 兼容166/182/210尺寸電池片

產(chǎn)品介紹

ZG515系列太陽電池組件測(cè)試儀是專門針對(duì)小型高效電池組件測(cè)試而研發(fā)，經(jīng)典下打光式光源結(jié)構(gòu)，模擬真實(shí)太陽光照射條件，滿足300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調(diào)。設(shè)備滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求：1.A+A+A+性能；不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。2。全光譜；光譜范圍滿足300-1200nm范圍，實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測(cè)試，測(cè)試準(zhǔn)確性大幅提高。3.智能掃描方法：可測(cè)試各類高效電池組件。

測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽能電池組件（PERC、TOPcon以及HJT等）、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試、缺陷檢測(cè)和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。

性能特點(diǎn)

u A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)：高于IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)

u 300-1200nm全光譜：更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力

u 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式

u 智能掃描方法：可測(cè)試各類高效電池組件

u 測(cè)量對(duì)象：PERC、TOPcon、HJT、非晶硅等技術(shù)組件

技術(shù)指標(biāo)