電路板的X射線面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）

介紹：　　IXRF專注于精確地微區(qū)痕量元素分析產(chǎn)品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線熒光（XRF）。     
　　在硬件方面，作為一款臺(tái)式XRF，Atlas-M型號(hào)的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉(cāng)體積，相對(duì)應(yīng)的是較大的樣品臺(tái)行程以及最重的載重量，而與此同時(shí)，卻可以將樣品臺(tái)的移動(dòng)速度提升到300mm/s，移動(dòng)精度≤1μm。      其采用的毛細(xì)管聚焦技術(shù)，可將束斑縮至5μm，另外也可通過(guò)選用準(zhǔn)直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內(nèi)可調(diào)；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。　　在軟件方面，作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國(guó)政府頒發(fā)的千禧年大獎(jiǎng)的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開(kāi)發(fā)上沿襲了其一貫的專業(yè)性及開(kāi)放性。在數(shù)據(jù)的獲取及處理上，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的一鍵采集，或自動(dòng)或手動(dòng)的鑒別樣品成分，并利用FP建模或quantitative  match等功能實(shí)現(xiàn)樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對(duì)獲取的圖像進(jìn)行拼接，還可實(shí)現(xiàn)相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學(xué)上的測(cè)量及成分分析等功能；在面分布及線掃描方面，可同時(shí)獲得多達(dá)35種元素的信息，并且實(shí)現(xiàn)單像素的譜圖數(shù)據(jù)采集，并可保存下來(lái)，后續(xù)仍可繼續(xù)對(duì)此數(shù)據(jù)進(jìn)行點(diǎn)線面等處理。　　在應(yīng)用方面，可在各種環(huán)境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無(wú)論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實(shí)現(xiàn)無(wú)損分析。      鑒于Atlas的突出的性能特點(diǎn)，其被廣泛的應(yīng)用到地礦文博、電子器件、環(huán)境監(jiān)測(cè)、刑偵醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥檢測(cè)等方面。

Atlas-M型號(hào)技術(shù)參數(shù)

特點(diǎn)：

1、 束斑尺寸最小可達(dá)5μm；

2、 大樣品臺(tái)行程（320×320×120mm），移動(dòng)速度可達(dá)300mm/s；

3、 多達(dá)8片的濾波片選擇；

應(yīng)用領(lǐng)域：

1、 地礦文博；

2、 電子器件；

3、 刑偵醫(yī)學(xué)；

4、 醫(yī)藥檢測(cè)；

5、 環(huán)境監(jiān)測(cè)。