完整的生產(chǎn)測試，無需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6% 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點

在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

最寬的電壓和電流動態(tài)范圍

高度準確的 100 μs 脈沖可擴展直流生產(chǎn)測試能力

嵌入式腳本提供生產(chǎn)吞吐量

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 64 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點

消除與 PC 之間耗時的總線通信

高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無主機

TSP-Link@ 技術(shù)支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

特點

支持 <500 ns 通道間同步

可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

隨著測試要求變化輕松重新配置

適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU在100 pA范圍內(nèi)提供 0.1 fA， 10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點

在電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時間快 7 倍

具有市面上的低電流分辨率

直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置