供應(yīng)HP/4278A行情_(kāi)HP4278A

HP4278A測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms
HP4278A測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G
C-D測(cè)量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)
線(xiàn)和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠(chǎng)檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容
器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)
值）
HP4278A技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量參數(shù) C-D，Q，ESR，G
測(cè)試信號(hào)  
頻率： 1kHz和1MHz±0.02%
信號(hào)電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)
 
測(cè)量時(shí)間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測(cè)量范圍 測(cè)量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式
1MHz高精度
C 0.01pF~200.000μF 0.00001pF~1280.00pF
    0.00004pF~2663.00pF
D 0.00001~9.99999 0.00001pF~9.99999
    0.00001pF~0.99999
 
電纜長(zhǎng)度補(bǔ)償 0,1或2m
比較器： 對(duì)電容的10倉(cāng)室分類(lèi)，對(duì)D、Q、ESR和G的合格/不合格測(cè)試
存儲(chǔ)卡插槽 外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對(duì)控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類(lèi)和調(diào)用（
存儲(chǔ)卡可任選，參見(jiàn)下面的選件004）。

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