特性：
1）基本精度為0.1%;
2）測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz;
3）量程為20mV~1Vrms，以5mVrms步進;
4）具有測試信號電平監(jiān)視功能;
5）高速測量：25ms;
6）高速接觸檢查;
7）大的電容測試量程;
8）變壓器參數測量（供選用）;
技術指標：測量功能測量參數|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR選件001增加DCR（直流電阻），N（匝數比）和M（互感）測量測量電路形式串聯和并聯數學功能偏差和百分偏差測試電纜長度0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)測試信號數據測試頻率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz選件002增加20kHz測試頻率頻率精度±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)輸出阻抗100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流測試信號電平20mV~1Vrms,以5mVrms分檔精度±（10%+10mV)內部直流偏置電平1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置0~+2.5V測量范圍 參數
測量范圍 |Z|,R,X1mΩ-100MΩ |Y|,G,B10nS-1000S C 1pF-1F L10nH-100kH D0.0001-9.9999 Q0.1-9999.9 θ-180°~+180° DCR1mΩ-100MΩ N0.9-200（待定） L,M1μH-100H（待定） Δ%-999.99%-+999.99% 測量精度：±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 測量時間 模式時間（典型值） 短25ms 中等65ms 長 500ms測試信號電平監(jiān)視器電壓和電流前端保護當充電電容器連接到輸入端時內部電路便函起保護作用。電容器電壓為；在
Vmax≤250V時，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。顯示數字3，4或5位（可選擇）修正功能開路/短路誤差為0消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差負載利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度比較功能對每個一次測量參數和二次測量參數給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結果接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms 特性：
1）基本精度為0.1%;
2）測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz;
3）量程為20mV~1Vrms，以5mVrms步進;
4）具有測試信號電平監(jiān)視功能;
5）高速測量：25ms;
6）高速接觸檢查;
7）大的電容測試量程;
8）變壓器參數測量（供選用）;
技術指標：測量功能測量參數|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR選件001增加DCR（直流電阻），N（匝數比）和M（互感）測量測量電路形式串聯和并聯數學功能偏差和百分偏差測試電纜長度0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)測試信號數據測試頻率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz選件002增加20kHz測試頻率頻率精度±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)輸出阻抗100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流測試信號電平20mV~1Vrms,以5mVrms分檔精度±（10%+10mV)內部直流偏置電平1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置0~+2.5V測量范圍 參數
測量范圍 |Z|,R,X1mΩ-100MΩ |Y|,G,B10nS-1000S C 1pF-1F L10nH-100kH D0.0001-9.9999 Q0.1-9999.9 θ-180°~+180° DCR1mΩ-100MΩ N0.9-200（待定） L,M1μH-100H（待定） Δ%-999.99%-+999.99% 測量精度：±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 測量時間 模式時間（典型值） 短25ms 中等65ms 長 500ms測試信號電平監(jiān)視器電壓和電流前端保護當充電電容器連接到輸入端時內部電路便函起保護作用。電容器電壓為；在
Vmax≤250V時，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。顯示數字3，4或5位（可選擇）修正功能開路/短路誤差為0消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差負載利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度比較功能對每個一次測量參數和二次測量參數給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結果接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms