用于10G 至 800G多通道塊/器件的研發(fā)和制造

• 最多可使用 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器同時測量

• 快速測量和高性能縮短測試時間，提高產量，并降低設備投入成本

  • 采樣示波器

    • 約 5 秒時間可捕獲 100 萬個樣本，采樣速率高達 250,000 樣本/秒

    • 內置高靈敏度 O/E（-15 dBm，典型值，SMF）

    • 高帶寬：35 GHz (光, SMF), 25 GHz (光, MMF), 40 GHz (電)

    • 低抖動：200 fs rms（典型值）

    • NRZ和PAM4信號分析能力，支持的53-Gbaud PAM4分析

    • 用于NRZ和PAM4的內置時26/53 Gbaud鐘恢復單元（CRU）

    • NRZ抖動分量分析

    
    

  • BERT

    • 低抖動PPG：600 fs（典型值）

    • 高靈敏度ED：25 mV（典型值）

    
    

  
  

• 內置PC支持穩(wěn)定快速測量

支持的應用：評估數據中心、核心網/城域網、4G / 5G移動回傳和5G移動前傳使用的10G / 50G / 100G / 200G / 400G / 800G光傳輸模塊，光纜以及相關部件的物理層性能

BERTWave MP2110A 是一款內置誤碼率測試儀 (BERT) 和采樣示波器的一體化測量儀器，支持光學模塊的誤碼率 (BER) 測量、眼圖分析等評估操作。
為了評估光學通訊系統中使用的光學模塊，需要使用 BERT 和采樣示波器。在此之前，評估 QSFP28 和 SFP28 等典型的光學模塊需要使用獨立的 BERT 和采樣示波器，但有了內置 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器的一體化 BERTWave MP2110A，就無需再使用單獨的儀器，從而降低了儀器投入資本和生產成本。
而且，BERTWave MP2110A 不僅可在光學模塊的 RX 側同時測量多達 4 個通道的誤碼率 (BER)，還能同時在 Tx 側執(zhí)行最多 4 個通道的眼圖模板測試和眼圖分析。此外，MP2110A 采樣示波器的采樣速率高達 250,000 樣本/秒（比上一代儀器快六倍），可更快地執(zhí)行眼圖模板測試和眼圖分析。支持NRZ信號掩模邊緣測量和抖動分析。還可以分析PAM4信號，并支持高達53 Gbaud的TDECQ測量。采用 BERTWave MP2110A 可同時執(zhí)行 BER 測量和眼圖分析，使測量時間縮短 65％。

MP2110A BERT 在標準配置下可測量 24.3Gb/s 至 28.2 Gb/s 的比特率，安裝 Opt-093 后則可測量 9.5Gb/s 至 14.2 Gb/s 的比特率。內置采樣示波器支持的帶寬為 40 GHz（電學 I/F）、35 GHz（SMF，光學 I/F）和 25 GHz（MMF，光學 I/F）。此外，該采樣示波器還標配內置 100 Gb/s 頻段的貝塞爾濾波器，用于測量光學信號。的性能有助于確保提高光學模塊的產量。
而且，簡化的設置和易用的用戶界面讓 MP2110A 方便操作；向后兼容 MP2100B 的遠程命令，確保儀器升級毫無煩憂。
另外，內置 PC 帶來的穩(wěn)定運行確保在任何操作環(huán)境下都能獲得出色的性能。 BERTWave MP2110A 配備多通道 BERT、采樣示波器、高速眼圖分析和波罩余量測量功能，因此 可提高光學模塊的生產效率，降低生產成本。