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近年來，限制使用環(huán)境有害物質已變得普遍，且成為保護環(huán)境工作的一部分

X射線熒光分析儀EA1280 產品詳情

近年來，限制使用環(huán)境有害物質已變得普遍，且成為保護環(huán)境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規(guī)的出臺，包括制造商在內的很多公司都被要求控制其產品中包含的限制物質數量。

新型EA1280具有中國標準（GB標準）建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導體檢測器，其工作效率和分析準確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡單的元素分析，因此其持續(xù)多次用于RoHS合規(guī)性篩查中。

1. 使用新型高性能半導體檢測器（硅漂移檢測器（SDD）），便于提高測試工作效率和獲得更可靠結果。

2. 采用同軸光學器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。

3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質量控制和過程控制培訓即可使用分析儀。

EA1280 技術規(guī)格

型號	EA1280
測量元素范圍	13Al～ 92U
準直器（分析光斑尺寸）	5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選）
初級濾波器（用于優(yōu)化性能）	5種模式（4臺濾波器+關閉）自動切換
樣品艙	環(huán)境大氣
檢測器	高性能SDD
分析儀尺寸	520（寬）×600（深）×445（高）mm
重量	約69 kg
樣品艙尺寸	304（寬）×304（深）×110（高）mm

EA1280是加入日立 EA1000系列分析儀的型號，具備*的分析能力，能滿足廣泛的測試要求。

關鍵詞：標準過程控制

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