富士FUJIWORK連續(xù)厚度測量儀FT-A200H
富士FUJIWORK連續(xù)厚度測量儀FT-A200H
薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-A200H,FT-A200HR,FT-D200H,FT-D200,FT-D210NL,FT-D210NLT,薄膜測試儀圖像檢查用單元FT-C100
產(chǎn)品介紹
薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-A200H/FT-A200HR
高精度測量頭和放大器單元的機型。
只需插入從生產(chǎn)線取出的薄膜,即可輕松連續(xù)測量厚度。
FT-A200 測量范圍/10μm~200μm
FT-A200R 測量范圍/3μm~100μm
測量分解能/0.01μm
薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-D200H
FT-D200的高分解能規(guī)格(測量分解能0.01μm)
通過0.01μm的高分解能可以高精度地測量極薄薄膜
測量范圍10μm~500μm
測量分辨率/0.01μm
薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-D200
帶內(nèi)置顯示裝置的一體式緊湊型設(shè)備。
傳輸功能進一步提升,能夠?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定的連續(xù)厚度測量。
測量范圍10μm~500μm
測量分辨率/0.1μm
薄膜測試儀圖像檢查用單元FT-C100
測量部分的觀察可以很簡單地進行。
作動距離105mμm
光學(xué)倍率0.28x~2.0x
測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng),以實現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制(AGC)。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側(cè)。設(shè)計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調(diào)整時間。
















































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