富士FUJIWORK連續(xù)厚度測量儀FT-A200H

富士FUJIWORK連續(xù)厚度測量儀FT-A200H

薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-A200H，FT-A200HR，FT-D200H，FT-D200，FT-D210NL，FT-D210NLT，薄膜測試儀圖像檢查用單元FT-C100

產(chǎn)品介紹

薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-A200H/FT-A200HR

高精度測量頭和放大器單元的機(jī)型。

只需插入從生產(chǎn)線取出的薄膜，即可輕松連續(xù)測量厚度。

FT-A200 測量范圍／10μm～200μm

FT-A200R 測量范圍／3μm～100μm

測量分解能/0.01μm

薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-D200H

FT-D200的高分解能規(guī)格（測量分解能0.01μm）

通過0.01μm的高分解能可以高精度地測量極薄薄膜

測量范圍10μm～500μm

測量分辨率/0.01μm

薄膜測試儀連續(xù)厚度測量儀FT-D200

帶內(nèi)置顯示裝置的一體式緊湊型設(shè)備。

傳輸功能進(jìn)一步提升，能夠?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定的連續(xù)厚度測量。

測量范圍10μm～500μm

測量分辨率/0.1μm

薄膜測試儀圖像檢查用單元FT-C100

測量部分的觀察可以很簡單地進(jìn)行。

作動(dòng)距離105mμm

光學(xué)倍率0.28x～2.0x

測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。

測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。